Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(6)
Chaturvedi, Nitin. editor.
(2)
Dwivedi, Devesh. editor.
(2)
Gupta, Anu. editor.
(2)
Pandey, Jai Gopal. editor. (orcid)0000-0001-9937-7438
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic Circuits and Systems.
(6)
Electronic books.
(6)
Electronic circuits.
(6)
Electronics.
(5)
Computer engineering.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
36 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000000000000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits için kapak resmi
Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits
Yazar 
Wang, Ran. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-54714-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits için kapak resmi
Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
Yazar 
Goel, Sandeep K, editor of compilation. Chakrabarty, Krishnendu, editor of compilation.
Yer Numarası 
TK7871.99 .M44 T43 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Nanometer CMOS ICs From Basics to ASICs için kapak resmi
Nanometer CMOS ICs From Basics to ASICs
Yazar 
Veendrick, Harry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-64249-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
GaN power devices for efficient power conversion için kapak resmi
GaN power devices for efficient power conversion
Yazar 
Lidow, Alex, author.
Yer Numarası 
TK7871.95 .L53 2025
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394286980
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
VLSI for Embedded Intelligence Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023 için kapak resmi
VLSI for Embedded Intelligence Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023
Yazar 
Gupta, Anu. editor. Pandey, Jai Gopal. editor. (orcid)0000-0001-9937-7438 Chaturvedi, Nitin. editor. Dwivedi, Devesh. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-97-3756-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Emerging VLSI Devices, Circuits and Architectures Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023 için kapak resmi
Emerging VLSI Devices, Circuits and Architectures Proceedings of the 27th International Symposium, VDAT 2023
Yazar 
Gupta, Anu. editor. Pandey, Jai Gopal. editor. (orcid)0000-0001-9937-7438 Chaturvedi, Nitin. editor. Dwivedi, Devesh. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-97-5269-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Direct Conversion Semiconductor Radiation Detectors using Si, CdTe and CdZnTe için kapak resmi
Direct Conversion Semiconductor Radiation Detectors using Si, CdTe and CdZnTe
Yazar 
Iniewski, Krzysztof Kris. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-94005-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Flexible electronic packaging and encapsulation technology için kapak resmi
Flexible electronic packaging and encapsulation technology
Yazar 
Meng, Hong, editor. Huang, Wei, editor.
Yer Numarası 
TK7870.15 .F54 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527845729
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Practical ESD protection design için kapak resmi
Practical ESD protection design
Yazar 
Wang, Albert Z. H., 1962- author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119850434
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Semiconductor basics : a qualitative, non-mathematical explanation of how semiconductors work and how they are used için kapak resmi
Semiconductor basics : a qualitative, non-mathematical explanation of how semiconductors work and how they are used
Yazar 
Domingo, George, 1937- author.
Yer Numarası 
TK7871.85 .D66 2020
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119597124
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Handbook of 3D integration. Volume 4, Design, test, and thermal management için kapak resmi
Handbook of 3D integration. Volume 4, Design, test, and thermal management
Yazar 
Franzon, Paul D., editor. Marinissen, Eric Jan, editor. Bakir, Muhannad S., editor.
Yer Numarası 
TK7874.893 .H36 2019
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527697052
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Electronics, power electronics, optoelectronics, microwaves, electromagnetics, and radar için kapak resmi
Electronics, power electronics, optoelectronics, microwaves, electromagnetics, and radar
Yazar 
Dorf, Richard C., author Dorf, Richard C., editor.
Yer Numarası 
TK145
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781315222158
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
Nanoelectronics : materials, devices, applications için kapak resmi
Nanoelectronics : materials, devices, applications
Yazar 
Puers, R., editor.
Yer Numarası 
TK7874.84
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527800728
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Nanometer CMOS ICs From Basics to ASICs için kapak resmi
Nanometer CMOS ICs From Basics to ASICs
Yazar 
J.M. Veendrick, Harry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-47597-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Design of 3D integrated circuits and systems için kapak resmi
Design of 3D integrated circuits and systems
Yazar 
Sharma, Rohit, editor.
Yer Numarası 
TK7874.893 .D48 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
3D IC stacking technology için kapak resmi
3D IC stacking technology
Yazar 
Wu, Banqiu. Kumar, Ajay. Ramaswami, Sesh.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
ESD failure mechanisms and models için kapak resmi
ESD failure mechanisms and models
Yazar 
Voldman, Steven H. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470747254
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10317806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
System-on-chip test architectures nanometer design for testability için kapak resmi
System-on-chip test architectures nanometer design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Stroud, Charles E. Touba, Nur A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach için kapak resmi
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach
Yazar 
Yichuang Sun, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
RF measurements for cellular phones and wireless data systems için kapak resmi
RF measurements for cellular phones and wireless data systems
Yazar 
Scott, Allan W. Frobenius, Rex.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361014
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Digital design and fabrication için kapak resmi
Digital design and fabrication
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G.
Yer Numarası 
TK7885 .D54 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow için kapak resmi
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow
Yazar 
Perelroyzen, Evgeni.
Yer Numarası 
TK7874 .P445 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
23. 
The VLSI handbook için kapak resmi
The VLSI handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
TK7874.75 .V573 2007
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
25. 
Embedded systems handbook için kapak resmi
Embedded systems handbook
Yazar 
Zurawski, Richard.
Yer Numarası 
TK7895 .E42 E64 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Microelectronics için kapak resmi
Microelectronics
Yazar 
Whitaker, Jerry C.
Yer Numarası 
TK7874 .M4587 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
The Computer Engineering Handbook. için kapak resmi
The Computer Engineering Handbook.
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G., author. CRC Press LLC.
Yer Numarası 
TK7885 .C645 2002
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781420041545
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits için kapak resmi
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Yazar 
Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-
Yer Numarası 
TK7874.75 B87 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Integrated circuit manufacturability the art of process and design integration için kapak resmi
Integrated circuit manufacturability the art of process and design integration
Yazar 
Pineda de Gyvez, José. Pradhan, Dhiraj K. IEEE Circuits and Systems Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5265097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
VLSI Testing Digital and mixed analogue/digital techniques için kapak resmi
VLSI Testing Digital and mixed analogue/digital techniques
Yazar 
Hurst, Stanley L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS009E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Low-power HF Microelectronics A unified approach için kapak resmi
Low-power HF Microelectronics A unified approach
Yazar 
Machado, Gerson A. S., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS008E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Principles of semiconductor network testing için kapak resmi
Principles of semiconductor network testing
Yazar 
Afshar, Amir.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750694728
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI için kapak resmi
Algorithmic and Knowledge-based CAD for VLSI
Yazar 
Taylor, Gaynor, ed. Russell, Gordon, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS004E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques için kapak resmi
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques
Yazar 
Wang, Francis C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Digital systems testing and testable design için kapak resmi
Digital systems testing and testable design
Yazar 
Abramovici, Miron. Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5266057
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation için kapak resmi
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation
Yazar 
Heyman, Joseph S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets