Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set için kapak resmi
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set
Yazar 
Dorf, Richard C., editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
R857 .B54
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Engineering the CMOS library enhancing digital design kits for competitive silicon için kapak resmi
Engineering the CMOS library enhancing digital design kits for competitive silicon
Yazar 
Doman, David. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Click here to view book
Available by subscription from Safari Books Online
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118273142
ebrary http://site.ebrary.com/id/10538699
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Computers, Software Engineering, and Digital Devices için kapak resmi
Computers, Software Engineering, and Digital Devices
Yazar 
Dorf, Richard C., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7885
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Direct digital frequency synthesizers için kapak resmi
Direct digital frequency synthesizers
Yazar 
Kroupa, Věnceslav F., 1923-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5443866
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Low-power CMOS design için kapak resmi
Low-power CMOS design
Yazar 
Chandrakasan, Anantha P. Brodersen, Robert W., 1945-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263696
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Digital systems testing and testable design için kapak resmi
Digital systems testing and testable design
Yazar 
Abramovici, Miron. Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5266057
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets