Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS Circuits and Algorithms için kapak resmi
Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS Circuits and Algorithms
Yazar 
Zjajo, Amir. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7781-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Detection of Corona Discharge in Electric Networks için kapak resmi
Detection of Corona Discharge in Electric Networks
Yazar 
Sokol, Yevgen. editor. Babak, Vitalii. editor. Zaporozhets, Artur. editor. (orcid)0000-0002-0704-4116 Gryb, Oleg. editor. Karpaliuk, Ihor. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-44025-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Monte Carlo Methods for Partial Differential Equations With Applications to Electronic Design Automation için kapak resmi
Monte Carlo Methods for Partial Differential Equations With Applications to Electronic Design Automation
Yazar 
Yu, Wenjian. author. Mascagni, Michael. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-3250-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Advanced Interfacing Techniques for Sensors Measurement Circuits and Systems for Intelligent Sensors için kapak resmi
Advanced Interfacing Techniques for Sensors Measurement Circuits and Systems for Intelligent Sensors
Yazar 
George, Boby. editor. Roy, Joyanta Kumar. editor. Kumar, V. Jagadeesh. editor. Mukhopadhyay, Subhas Chandra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-55369-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: