Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
16 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Willemite-Based Glass Ceramic Doped by Different Percentage of Erbium Oxide and Sintered in Temperature of 500-1100C Physical and Optical Properties için kapak resmi
Willemite-Based Glass Ceramic Doped by Different Percentage of Erbium Oxide and Sintered in Temperature of 500-1100C Physical and Optical Properties
Yazar 
Sarrigani, Gholamreza Vahedi. author. Amiri, Iraj Sadegh. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-10644-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Temperature- and Supply Voltage-Independent Time References for Wireless Sensor Networks için kapak resmi
Temperature- and Supply Voltage-Independent Time References for Wireless Sensor Networks
Yazar 
De Smedt, Valentijn. author. Gielen, Georges. author. Dehaene, Wim. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09003-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
High-Z Materials for X-ray Detection Material Properties and Characterization Techniques için kapak resmi
High-Z Materials for X-ray Detection Material Properties and Characterization Techniques
Yazar 
Abbene, Leonardo. editor. Iniewski, Krzysztof (Kris). editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-20955-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Sensors and Microsystems Proceedings of AISEM 2022 için kapak resmi
Sensors and Microsystems Proceedings of AISEM 2022
Yazar 
Di Francia, Girolamo. editor. Di Natale, Corrado. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-25706-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging için kapak resmi
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Yazar 
Gan, Chong Leong,. author. Huang, Chen-Yu,. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26708-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Biomedical Electronics, Noise Shaping ADCs, and Frequency References Advances in Analog Circuit Design 2022 için kapak resmi
Biomedical Electronics, Noise Shaping ADCs, and Frequency References Advances in Analog Circuit Design 2022
Yazar 
Harpe, Pieter. editor. Baschirotto, Andrea. editor. Makinwa, Kofi A.A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-28912-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Advances in VLSI and Embedded Systems Select Proceedings of AVES 2021 için kapak resmi
Advances in VLSI and Embedded Systems Select Proceedings of AVES 2021
Yazar 
Darji, Anand D. editor. Joshi, Deepak. editor. Joshi, Amit. editor. Sheriff, Ray. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-6780-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Differentiated Layout Styles for MOSFETs Electrical Behavior in Harsh Environments için kapak resmi
Differentiated Layout Styles for MOSFETs Electrical Behavior in Harsh Environments
Yazar 
Gimenez, Salvador Pinillos. author. Galembeck, Egon Henrique Salerno. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-29086-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Circuit Design for Reliability için kapak resmi
Circuit Design for Reliability
Yazar 
Reis, Ricardo. editor. Cao, Yu. editor. Wirth, Gilson. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-4078-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Thermal Effects in Supercapacitors için kapak resmi
Thermal Effects in Supercapacitors
Yazar 
Xiong, Guoping. author. Kundu, Arpan. author. Fisher, Timothy S. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-20242-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Thermal Sensors Principles and Applications for Semiconductor Industries için kapak resmi
Thermal Sensors Principles and Applications for Semiconductor Industries
Yazar 
Jha, Chandra Mohan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-2581-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets