Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Electromechanical coupling theory, methodology and applications for high-performance microwave equipment için kapak resmi
Electromechanical coupling theory, methodology and applications for high-performance microwave equipment
Yazar 
Duan, Baoyan, author. Zhang, Shuxin (Professor of electromechanical engineering), author.
Yer Numarası 
TK7876 .D83 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119904427
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Real-time embedded systems için kapak resmi
Real-time embedded systems
Yazar 
Wang, Jiacun, 1963- author.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119420712
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Advancements of Medical Electronics Proceedings of the First International Conference, ICAME 2015 için kapak resmi
Advancements of Medical Electronics Proceedings of the First International Conference, ICAME 2015
Yazar 
Gupta, Somsubhra. editor. Bag, Sandip. editor. Ganguly, Karabi. editor. Sarkar, Indranath. editor. Biswas, Papun. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-2256-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering için kapak resmi
Innovations and Advances in Computing, Informatics, Systems Sciences, Networking and Engineering
Yazar 
Sobh, Tarek. editor. Elleithy, Khaled. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-06773-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Future Information Technology - II için kapak resmi
Future Information Technology - II
Yazar 
Park, James J. (Jong Hyuk). editor. Pan, Yi. editor. Kim, Cheonshik. editor. Yang, Yun. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-017-9558-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Languages for Embedded Systems and their Applications Selected Contributions on Specification, Design, and Verification from FDL’08 için kapak resmi
Languages for Embedded Systems and their Applications Selected Contributions on Specification, Design, and Verification from FDL’08
Yazar 
Radetzki, Martin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9714-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets