Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(21)
Elleithy, Khaled. editor.
(2)
John Wiley & Sons, publisher.
(2)
Sobh, Tarek. editor.
(2)
Aly, Mohamed M. Sabry. editor.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(13)
Systems engineering.
(13)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(13)
Engineering.
(11)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
35 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques için kapak resmi
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Yazar 
Sayil, Selahattin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design, Modeling and Testing of Data Converters için kapak resmi
Design, Modeling and Testing of Data Converters
Yazar 
Carbone, Paolo. editor. Kiaei, Sayfe. editor. Xu, Fang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39655-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Design and Testing of Digital Microfluidic Biochips için kapak resmi
Design and Testing of Digital Microfluidic Biochips
Yazar 
Zhao, Yang. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331239.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0370-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition için kapak resmi
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition
Yazar 
Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Innovative Design, Manufacturing and Testing of Small Satellites için kapak resmi
Innovative Design, Manufacturing and Testing of Small Satellites
Yazar 
Madry, Scott. author. Martinez, Peter. author. Laufer, Rene. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75094-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements için kapak resmi
Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements
Yazar 
Zhuang, Yuming. author. Chen, Degang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-77718-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment için kapak resmi
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment
Yazar 
Modarres, M. (Mohammad), author. Amiri, Mehdi, author. Jackson, Christopher, 1979- author.
Yer Numarası 
TA169.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119388692
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects için kapak resmi
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects
Yazar 
Grossmann, Günter. editor. Zardini, Christian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-236-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations için kapak resmi
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Yazar 
Champac, Victor. author. Garcia Gervacio, Jose. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75465-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting için kapak resmi
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter için kapak resmi
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter
Yazar 
Maichen, Wolfgang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-31419-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets