Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(474)
Wang, Zhiming M. editor.
(12)
Korkin, Anatoli. editor.
(4)
Demchenko, Alexander P. editor.
(3)
Lee, Kwang-Sup. editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(142)
Physics.
(135)
Electronics.
(125)
Nanotechnology.
(119)
Chemistry.
(108)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
487 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
The Physics of Semiconductors An Introduction Including Devices and Nanophysics için kapak resmi
The Physics of Semiconductors An Introduction Including Devices and Nanophysics
Yazar 
Grundmann, Marius. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-34661-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization için kapak resmi
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Yazar 
Larsson, Erik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135763
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Principles and Applications of NanoMEMS Physics için kapak resmi
Principles and Applications of NanoMEMS Physics
Yazar 
Santos, Héctor J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136228
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics için kapak resmi
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics
Yazar 
Ogale, Satischandra B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136780
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Transaction Level Modeling with SystemC TLM Concepts and Applications for Embedded Systems için kapak resmi
Transaction Level Modeling with SystemC TLM Concepts and Applications for Embedded Systems
Yazar 
Ghenassia, Frank. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137175
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensor, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensors, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Sozopol, Bulgaria 6–17 September 2004 için kapak resmi
Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensor, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Nanostructured and Advanced Materials for Applications in Sensors, Optoelectronic and Photovoltaic Technology Sozopol, Bulgaria 6–17 September 2004
Yazar 
Vaseashta, A. editor. Dimova-Malinovska, D. editor. Marshall, J. M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3562-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Semiconductor Nanocrystals and Silicate Nanoparticles için kapak resmi
Semiconductor Nanocrystals and Silicate Nanoparticles
Yazar 
Peng, X. editor. Mingos, D. M. P. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b11020
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures Phonons, Plasmons, and Polaritons için kapak resmi
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures Phonons, Plasmons, and Polaritons
Yazar 
Schubert, Mathias. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b11964
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Materials Fundamentals of Gate Dielectrics için kapak resmi
Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
Yazar 
Demkov, Alexander A. editor. Navrotsky, Alexandra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3078-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Quantum Dots: Fundamentals, Applications, and Frontiers Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Quantum Dots: Fundamentals, Applications and Frontiers Crete, Greece, 20–24 July 2003 için kapak resmi
Quantum Dots: Fundamentals, Applications, and Frontiers Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Quantum Dots: Fundamentals, Applications and Frontiers Crete, Greece, 20–24 July 2003
Yazar 
Joyce, Bruce A. editor. Kelires, Pantelis C. editor. Naumovets, Anton G. editor. Vvedensky, Dimitri D. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3315-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
High Dielectric Constant Materials VLSI MOSFET Applications için kapak resmi
High Dielectric Constant Materials VLSI MOSFET Applications
Yazar 
Huff, H.R. editor. Gilmer, D.C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137574
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets