Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Optimization of industrial systems için kapak resmi
Optimization of industrial systems
Yazar 
Tyagi, Mohit, editor. Panchal, Dilbagh, editor. Sachdeva, Anish, editor. Pamucar, Dragan, editor.
Yer Numarası 
QA402.5 .O68 2022
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119755074
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets