Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(31)
Yadav, Sanjay. editor.
(3)
Astakhov, Viktor P., author.
(2)
Collège français de métrologie.
(2)
Gåsvik, Kjell J.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Metrology.
(15)
Electronic books.
(8)
Engineering.
(8)
Nanotechnology.
(7)
Machinery.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
94 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke, editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley Online Library
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists için kapak resmi
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists
Yazar 
Vosk, Ted, author. Emery, A. F. (Ashley Francis), 1934- author.
Yer Numarası 
HV8073.5 .V67 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology için kapak resmi
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-36359-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications için kapak resmi
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
Yazar 
Servín, Manuel, author. Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio), author. Padilla, J. Moisés (José Moisés), author.
Yer Numarası 
ONLINE(342225.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1701414
ebrary http://site.ebrary.com/id/10881255
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527681075
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=615339
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Handbook of 3D machine vision : optical metrology and imaging için kapak resmi
Handbook of 3D machine vision : optical metrology and imaging
Yazar 
Song, Zhang.
Yer Numarası 
TK8315 .H36 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Performance-based gear metrology kinematic-transmission-error computation and diagnosis için kapak resmi
Performance-based gear metrology kinematic-transmission-error computation and diagnosis
Yazar 
Mark, William D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118357903
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=51229
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements için kapak resmi
Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements
Yazar 
Boutier, A. (Alain)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118576847
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118576847
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
A practical guide to optical metrology for thin films için kapak resmi
A practical guide to optical metrology for thin films
Yazar 
Quinten, Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Check for Full Text Access restricted: MSVU users only
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527664344
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics için kapak resmi
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics
Yazar 
Proulx, Tom. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0228-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
46. 
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks için kapak resmi
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks
Yazar 
Hebra, Alexius J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology için kapak resmi
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. Kujawinska, Malgorzata. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03051-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science için kapak resmi
Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science
Yazar 
Pavese, Franco. editor. Forbes, Alistair B. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4804-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets