Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(31)
Yadav, Sanjay. editor.
(3)
Astakhov, Viktor P., author.
(2)
Collège français de métrologie.
(2)
Gåsvik, Kjell J.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Metrology.
(15)
Electronic books.
(8)
Engineering.
(8)
Nanotechnology.
(7)
Machinery.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
94 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
61. 
Proceedings of the International Conference on Information Control, Electrical Engineering and Rail Transit ICEERT 2022 için kapak resmi
Proceedings of the International Conference on Information Control, Electrical Engineering and Rail Transit ICEERT 2022
Yazar 
Yadav, Sanjay. editor. Kumar, Rahul. editor. Zainuddin, Hidayat. editor. Deng, Lvxiang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-6431-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
62. 
Digital Holography and Wavefront Sensing Principles, Techniques and Applications için kapak resmi
Digital Holography and Wavefront Sensing Principles, Techniques and Applications
Yazar 
Schnars, Ulf. author. Falldorf, Claas. author. Watson, John. author. Jüptner, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-44693-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
63. 
Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces Final Report of the DFG Research Group 576 için kapak resmi
Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces Final Report of the DFG Research Group 576
Yazar 
Denkena, Berend. editor. Rienäcker, Adrian. editor. Knoll, Gunter. editor. Bach, Friedrich-Wilhelm. editor. Maier, Hans Jürgen. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09692-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
64. 
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications için kapak resmi
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications
Yazar 
Liu, Zheng. editor. Ukida, Hiroyuki. editor. Ramuhalli, Pradeep. editor. Niel, Kurt. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4471-6741-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
65. 
Pattern Recognition and Image Analysis 7th Iberian Conference, IbPRIA 2015, Santiago de Compostela, Spain, June 17-19, 2015, Proceedings için kapak resmi
Pattern Recognition and Image Analysis 7th Iberian Conference, IbPRIA 2015, Santiago de Compostela, Spain, June 17-19, 2015, Proceedings
Yazar 
Paredes, Roberto. editor. Cardoso, Jaime S. editor. Pardo, Xosé M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-19390-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
66. 
Pattern Recognition and Machine Intelligence 6th International Conference, PReMI 2015, Warsaw, Poland, June 30 - July 3, 2015, Proceedings için kapak resmi
Pattern Recognition and Machine Intelligence 6th International Conference, PReMI 2015, Warsaw, Poland, June 30 - July 3, 2015, Proceedings
Yazar 
Kryszkiewicz, Marzena. editor. Bandyopadhyay, Sanghamitra. editor. Rybinski, Henryk. editor. Pal, Sankar K. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-19941-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
67. 
Optical devices in ophthalmology and optometry technology, design principles and clinical applications için kapak resmi
Optical devices in ophthalmology and optometry technology, design principles and clinical applications
Yazar 
Donnerhacke, Karl-Heinz. Rill, Michael Stefan. Kaschke, Michael F.
Yer Numarası 
ONLINE(342196.1)
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648962
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
68. 
Drills : science and technology of advanced operations için kapak resmi
Drills : science and technology of advanced operations
Yazar 
Astakhov, Viktor P., author.
Yer Numarası 
TJ1260 .A87 2014
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
69. 
Applications of EPR in Radiation Research için kapak resmi
Applications of EPR in Radiation Research
Yazar 
Lund, Anders. editor. Shiotani, Masaru. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09216-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
70. 
Electrical impedance : principles, measurement, and applications için kapak resmi
Electrical impedance : principles, measurement, and applications
Yazar 
Callegaro, Luca., author.
Yer Numarası 
QC522 .C35 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
71. 
Yasal metroloji için kapak resmi
Yasal metroloji
Yer Numarası 
QC89.T9 Y37 2013
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
72. 
Luminescence : the instrumental key to the future of nanotechnology için kapak resmi
Luminescence : the instrumental key to the future of nanotechnology
Yazar 
Gilmore, Adam M., editor.
Yer Numarası 
QC476.5 .L86 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets