Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(528)
Wiley InterScience (Online service)
(6)
Karwowski, Waldemar, 1953-
(5)
Nakagawa, Toshio. author.
(5)
Mathew, Joseph. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
System safety.
(426)
Engineering.
(261)
Engineering economy.
(73)
Industrial engineering.
(56)
Engineering design.
(52)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
681 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
517. 
Risikoaggregation in der Praxis Beispiele und Verfahren aus dem Risikomanagement von Unternehmen. için kapak resmi
Risikoaggregation in der Praxis Beispiele und Verfahren aus dem Risikomanagement von Unternehmen.
Yazar 
Deutsche Gesellschaft für Risikomanagement e.V. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73250-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
518. 
Blast Cleaning Technology için kapak resmi
Blast Cleaning Technology
Yazar 
Momber, Andreas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73645-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
519. 
Powders and Bulk Solids Behavior, Characterization, Storage and Flow için kapak resmi
Powders and Bulk Solids Behavior, Characterization, Storage and Flow
Yazar 
Schulze, Dietmar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73768-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
520. 
Wägelexikon Leitfaden wägetechnischer Begriffe için kapak resmi
Wägelexikon Leitfaden wägetechnischer Begriffe
Yazar 
Nater, Roland. author. Reichmuth, Arthur. author. Schwartz, Roman. author. Borys, Michael. author. Zervos, Panagiotis. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-75908-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
521. 
Model-based Fault Diagnosis Techniques Design Schemes, Algorithms, and Tools için kapak resmi
Model-based Fault Diagnosis Techniques Design Schemes, Algorithms, and Tools
Yazar 
Ding, Steven X. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-76304-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
522. 
Sicherheit und Betriebsfestigkeit von Maschinen und Anlagen Konzepte und Methoden zur Lebensdauervorhersage için kapak resmi
Sicherheit und Betriebsfestigkeit von Maschinen und Anlagen Konzepte und Methoden zur Lebensdauervorhersage
Yazar 
Sander, Manuela. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-77733-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
523. 
Dokumentation verfahrenstechnischer Anlagen Praxishandbuch mit Checklisten und Beispielen için kapak resmi
Dokumentation verfahrenstechnischer Anlagen Praxishandbuch mit Checklisten und Beispielen
Yazar 
Weber, Klaus H. author. Schüßler, Manfred. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85124-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
524. 
Collaborative Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Collaborative Engineering Theory and Practice
Yazar 
Kamrani, Ali K. editor. Nasr, Emad S. Abouel. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-47321-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
525. 
Precision Manufacturing için kapak resmi
Precision Manufacturing
Yazar 
Dornfeld, David. author. Lee, Dae-Eun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-68208-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
526. 
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis için kapak resmi
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis
Yazar 
Limnios, Nikolaos. author. Barbu, Vlad Stefan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-73173-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
527. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
528. 
Bayesian Reliability için kapak resmi
Bayesian Reliability
Yazar 
Hamada, Michael S. author. Wilson, Alyson G. author. Reese, C. Shane. author. Martz, Harry F. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-77950-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets