Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Optical techniques for solid-state materials characterization için kapak resmi
Optical techniques for solid-state materials characterization
Yazar 
Prasankumar, Rohit P. Taylor, Antoinette J., 1956-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Kramers-Kronig Relations in Optical Materials Research için kapak resmi
Kramers-Kronig Relations in Optical Materials Research
Yazar 
Lucarini, Valerio. author. Peiponen, Kai-Erik. author. Saarinen, Jarkko J. author. Vartiainen, Erik M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138913
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Spectroscopic ellipsometry principles and applications için kapak resmi
Spectroscopic ellipsometry principles and applications
Yazar 
Fujiwara, Hiroyuki. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470060193
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Semiconductor Optics için kapak resmi
Semiconductor Optics
Yazar 
Klingshirn, Claus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-38347-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
The Physics of Thin Film Optical Spectra An Introduction için kapak resmi
The Physics of Thin Film Optical Spectra An Introduction
Yazar 
Stenzel, Olaf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27905-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Semiconductor Optics için kapak resmi
Semiconductor Optics
Yazar 
Klingshirn, Claus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138175
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms için kapak resmi
CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms
Yazar 
Li, Flora M. author. Nathan, Arokia. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139047
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets