Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Nanotechnology.
(14)
Surfaces (Physics).
(12)
Scanning probe microscopy.
(8)
Chemistry.
(7)
Particles (Nuclear physics).
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
27 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Acoustic Scanning Probe Microscopy için kapak resmi
Acoustic Scanning Probe Microscopy
Yazar 
Marinello, Francesco. editor. Passeri, Daniele. editor. Savio, Enrico. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333153.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27494-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Scanning probe microscopy for energy research için kapak resmi
Scanning probe microscopy for energy research
Yazar 
Bonnell, Dawn A. Kalinin, Sergei V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=564537
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Roadmap of Scanning Probe Microscopy için kapak resmi
Roadmap of Scanning Probe Microscopy
Yazar 
Morita, Seizo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34315-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Exploring scanning probe microscopy with mathematica için kapak resmi
Exploring scanning probe microscopy with mathematica
Yazar 
Sarid, Dror. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Volltext http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/114123590
Volltext http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527610068
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527610068
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology. için kapak resmi
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology.
Yazar 
Klapetek, Petr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect https://www.sciencedirect.com/science/book/9780128133477
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333137.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25414-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices için kapak resmi
Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices
Yazar 
T͡Sukruk, V. V. (Vladimir Vasilʹevich) Singamaneni, Srikanth. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Connect to MyiLibrary resource.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10497-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Yazar 
Kalinin, Sergei V. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7167-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Yazar 
Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Yazar 
Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Hybridizing surface probe microscopies towards a full description of the meso- and nanoworlds için kapak resmi
Hybridizing surface probe microscopies towards a full description of the meso- and nanoworlds
Yazar 
Moreno-Flores, Susan. Toca-Herrera, Jos ̌L. (Jos ̌Luis), 1967-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Single-atom nanoelectronics için kapak resmi
Single-atom nanoelectronics
Yazar 
Prati, Enrico. Shinada, Takahiro.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Instrumental community probe microscopy and the path to nanotechnology için kapak resmi
Instrumental community probe microscopy and the path to nanotechnology
Yazar 
Mody, Cyrus C. M. (Cyrus Cawas Maneck), 1974- Project Muse.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Full text available:
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Physical chemistry chemical kinetics and reaction mechanisms için kapak resmi
Physical chemistry chemical kinetics and reaction mechanisms
Yazar 
Trimm, Harold H. (Harold Henry), 1955-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Handbook of surface and interface analysis methods for problem-solving için kapak resmi
Handbook of surface and interface analysis methods for problem-solving
Yazar 
Rivir̈e, J. C. Myhra, S. (Sverre), 1943-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Carbon nanotubes properties and applications için kapak resmi
Carbon nanotubes properties and applications
Yazar 
O'Connell, Michael (Michael J.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Scanning probe microscopies beyond imaging manipulation of molecules and nanostructures için kapak resmi
Scanning probe microscopies beyond imaging manipulation of molecules and nanostructures
Yazar 
Samorì, Paolo. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527608516
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112683146
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
25. 
Force microscopy applications in biology and medicine için kapak resmi
Force microscopy applications in biology and medicine
Yazar 
Jena, Bhanu P. Hörber, J. K. Heinrich. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/browsebyproduct?type=2
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470007702
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112139511
Volltext http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/0470007702
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Scanning probe microscopes applications in science and technology için kapak resmi
Scanning probe microscopes applications in science and technology
Yazar 
Birdi, K. S., 1934-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Electrochemical nanotechnology in-situ local probe techniques at electrochemical interfaces için kapak resmi
Electrochemical nanotechnology in-situ local probe techniques at electrochemical interfaces
Yazar 
Lorenz, W. J. Plieth, W. (Waldfried) International Union of Pure and Applied Chemistry. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=481756
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527612154
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/39117390.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets