Search Results for Scanning.

1.

Scanning Force Microscopy of Polymers

Yazar

Schönherr, Holger. author. Vancso, G. Julius. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-01231-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Applied Scanning Probe Methods XII Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85039-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Applied Scanning Probe Methods IX Characterization

Yazar

Tomitori, Masahiko. editor. Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Roadmap of Scanning Probe Microscopy

Yazar

Morita, Seizo. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34315-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Applied Scanning Probe Methods VI Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/11776314

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Applied Scanning Probe Methods III Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138285

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications

Yazar

Zhou, Weilie. editor. Wang, Zhong Lin. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138289

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

9.

Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

10.

Applied Scanning Probe Methods XIII Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85049-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Applied Scanning Probe Methods X Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Tomitori, Masahiko. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74085-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

12.

Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

13.

Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Yazar

Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

14.

Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

15.

Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/11785705

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

16.

Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Yazar

Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

17.

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces

Yazar

Kaupp, Gerd. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

18.

Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b139097

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

19.

Mono-Cycle Photonics and Optical Scanning Tunneling Microscopy Route to Femtosecond Ångstrom Technology

Yazar

Yamashita, Mikio. editor. Shigekawa, Hidemi. editor. Morita, Ryuji. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138671

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

	{displayName}	{count}
{error}