Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(22)
Bayle, Franck, author.
(2)
Drechsler, Rolf. author.
(2)
Bhushan, Manjul. author.
(1)
Biemer, Steven M., author.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
25 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects için kapak resmi
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Peng, Ke. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines için kapak resmi
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Yazar 
Drechsler, Rolf. author. Eggersglüβ, Stephan. author. Fey, Görschwin. author. Tille, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2360-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques için kapak resmi
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
Yazar 
Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability için kapak resmi
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Yazar 
Eggersglüß, Stephan. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs için kapak resmi
Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Yazar 
Bou-Sleiman, Sleiman. author. Ismail, Mohammed. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9548-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures için kapak resmi
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures
Yazar 
Navabi, Zainalabedin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration için kapak resmi
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration
Yazar 
Zjajo, Amir. author. Pineda de Gyvez, José. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test için kapak resmi
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test
Yazar 
Liu, Ai-Qun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46262-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies için kapak resmi
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar 
Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links için kapak resmi
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Yazar 
Hong, Dongwoo. author. Cheng, Kwang-Ting. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date için kapak resmi
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date
Yazar 
Lauwereins, Rudy. editor. Madsen, Jan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6488-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Design of Systems on a Chip: Design and Test için kapak resmi
Design of Systems on a Chip: Design and Test
Yazar 
Reis, Ricardo. editor. Lubaszewski, Marcelo. editor. Jess, Jochen A.G. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32500-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ için kapak resmi
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Yazar 
Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems için kapak resmi
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems
Yazar 
Sonza Reorda, Matteo. editor. Peng, Zebo. editor. Violante, Massimo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-145-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Product maturity. 1, Theoretical principals and industrial applications için kapak resmi
Product maturity. 1, Theoretical principals and industrial applications
Yazar 
Bayle, Franck, author.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119902232
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Product maturity. 2, Principles and illustrations için kapak resmi
Product maturity. 2, Principles and illustrations
Yazar 
Bayle, Franck, author.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119988342
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
25. 
Systems engineering : principles and practice için kapak resmi
Systems engineering : principles and practice
Yazar 
Kossiakoff, Alexander, 1914-2005, author. Seymour, Samuel J., author. Flanigan, David A., author. Biemer, Steven M., author.
Yer Numarası 
TA168 .K68 2020
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119516699
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets