Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(14)
Electronics.
(12)
Engineering design.
(5)
Computer engineering.
(3)
Operating systems (Computers).
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
21 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques için kapak resmi
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Yazar 
Sayil, Selahattin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design and Testing of Digital Microfluidic Biochips için kapak resmi
Design and Testing of Digital Microfluidic Biochips
Yazar 
Zhao, Yang. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331239.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0370-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Verification, validation, and testing of engineered systems için kapak resmi
Verification, validation, and testing of engineered systems
Yazar 
Engel, Avner.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=35180
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470618851
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470618851
http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9781118029312
http://proquest.safaribooksonline.com/9781118029312
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault için kapak resmi
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Yazar 
Wunderlich, Hans-Joachim. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3282-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition için kapak resmi
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition
Yazar 
Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements için kapak resmi
Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements
Yazar 
Zhuang, Yuming. author. Chen, Degang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-77718-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations için kapak resmi
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Yazar 
Champac, Victor. author. Garcia Gervacio, Jose. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75465-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Soft Errors in Modern Electronic Systems için kapak resmi
Soft Errors in Modern Electronic Systems
Yazar 
Nicolaidis, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
New Methods of Concurrent Checking için kapak resmi
New Methods of Concurrent Checking
Yazar 
Göessel, Michael. author. Ocheretny, Vitaly. author. Sogomonyan, Egor. author. Marienfeld, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8420-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ için kapak resmi
The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Yazar 
Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting için kapak resmi
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter için kapak resmi
Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter
Yazar 
Maichen, Wolfgang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-31419-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits için kapak resmi
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Yazar 
Kabisatpathy, Prithviraj. author. Barua, Alok. author. Sinha, Satyabroto. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135977
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Data Mining and Diagnosing IC Fails için kapak resmi
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Yazar 
Huisman, Leendert M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137446
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Power generation handbook fundamentals of low-emission, high-efficiency power plant operation için kapak resmi
Power generation handbook fundamentals of low-emission, high-efficiency power plant operation
Yazar 
Kiameh, Philip.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Systems engineering tools and methods için kapak resmi
Systems engineering tools and methods
Yazar 
Kamrani, Ali K. Azimi, Maryam.
Yer Numarası 
TA168 .S8855 2011
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Instrumentation design studies için kapak resmi
Instrumentation design studies
Yazar 
Doebelin, Ernest O., author.
Yer Numarası 
TA165 .D547 2010
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets