Search Results for Metrology.

1.

Metrology

Yazar

Gao, Wei. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-981-10-4938-5

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Mass Metrology

Yazar

Gupta, S. V. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23412-5

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Optical metrology

Yazar

Gåsvik, Kjell J.

Yer Numarası

ONLINE(318819.1)

Elektronik Erişim

Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=146226
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=79534
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=26972
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855606
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/toc/wiley023/2002072607.html

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Optical metrology

Yazar

Gåsvik, Kjell J. John Wiley & Sons.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855606

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Speckle metrology

Yazar

Erf, Robert K.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122413605

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Comprehensive mass metrology

Yazar

Kochsiek, Manfred. Gläser, Michael, 1942- John Wiley & Sons.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/43419333.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527602992

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Metrology for engineers

Yazar

Galyer, J. F. W. Shotbolt, C. R., ort. yaz.

Yer Numarası

T 50 G3 1980

Format:

Durum

Beytepe Kütüphanesi~1

Rafta:
Kopya:

8.

Ultra-fast material metrology

Yazar

Horn, Alexander, PD Dr.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=482071
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527627929
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10332978

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

9.

Handbook of optical dimensional metrology

Yazar

Harding, Kevin G.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

10.

Optical imaging and metrology advanced technologies

Yazar

Osten, Wolfgang. Reingand, Nadya.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Connect to MyiLibrary resource.
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=947916
Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648443
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10575536

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Semiconductor strain metrology principles and applications

Yazar

Wong, Terence K. S.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=500610

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

12.

Instrumentation and metrology in oceanography

Yazar

Le Menn, Marc.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

ebrary An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118561959
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy1303/2012025490-t.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10684971

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

13.

Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology

Yazar

Zhao, Yaoyao (Fiona). author. Brown, Robert. author. Kramer, Thomas R. author. Xu, Xun. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2167-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

14.

Springer Handbook of Metrology and Testing

Yazar

Czichos, Horst. editor. Saito, Tetsuya. editor. Smith, Leslie. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16641-9

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

15.

Software metrics and software metrology

Yazar

Abran, Alain, 1949-

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

16.

Computational Surface and Roundness Metrology

Yazar

Muralikrishnan, Bala. author. Raja, Jay. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-297-5

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

17.

X-ray metrology in semiconductor manufacturing

Yazar

Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- Tanner, B. K. (Brian Keith)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

18.

Handbook of silicon semiconductor metrology

Yazar

Diebold, A. C. (Alain C.)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

19.

Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions

Yazar

Silvani, Xavier. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(332373.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7962-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

20.

Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications

Yazar

Raza, Hassan. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22984-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

21.

Advances in speckle metrology and related techniques

Yazar

Kaufmann, Guillermo H.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Wiley InterScience - Full Text Online http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527633852
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10446636

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

22.

Digital holography for MEMS and microsystem metrology

Yazar

Asundi, Anand.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119997290
http://lib.myilibrary.com?id=317798
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=697681

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

23.

Distributed Large-Scale Dimensional Metrology New Insights

Yazar

Franceschini, Fiorenzo. author. Galetto, Maurizio. author. Maisano, Domenico. author. Mastrogiacomo, Luca. author. Pralio, Barbara. author.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-543-9

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

24.

Handbook of optical metrology principles and applications

Yazar

Yoshizawa, T?ru, 1939-

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

25.

Metrology in industry the key for quality

Yazar

Collège français de métrologie. Wiley InterScience (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0806/2006003530-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470612125

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

26.

Transverse disciplines in metrology proceedings of the 13th International Metrology Congress, 2007, Lille, France

Yazar

International Metrology Conference (13th : 2007 : French College of Metrology) Collège français de métrologie. Wiley InterScience (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=477706
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470611371
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10360928
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=477706
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/230183422.html

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

27.

Advances in Manufacturing II Volume 5 - Metrology and Measurement Systems

Yazar

Diering, Magdalena. editor. Wieczorowski, Michał. editor. Brown, Christopher A. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-3-030-18682-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

28.

Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations

Yazar

Mansfield, Elisabeth, editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke, editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Wiley Online Library

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

29.

Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists

Yazar

Vosk, Ted, author. Emery, A. F. (Ashley Francis), 1934- author.

Yer Numarası

ONLINE(357151.1)

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

30.

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications

Yazar

Servín, Manuel, author. Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio), author. Padilla, J. Moisés (José Moisés), author.

Yer Numarası

ONLINE(342225.1)

Elektronik Erişim

Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1701414
ebrary http://site.ebrary.com/id/10881255
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527681075
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=615339

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

31.

Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology

Yazar

Osten, Wolfgang. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-3-642-36359-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

32.

Performance-based gear metrology kinematic-transmission-error computation and diagnosis

Yazar

Mark, William D.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118357903
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=51229

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

33.

Handbook of 3D machine vision optical metrology and imaging

Yazar

Song, Zhang.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

34.

Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements

Yazar

Boutier, A. (Alain)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118576847
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118576847

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

35.

A practical guide to optical metrology for thin films

Yazar

Quinten, Michael.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Check for Full Text Access restricted: MSVU users only
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527664344

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

36.

Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics

Yazar

Proulx, Tom. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0228-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

37.

The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks

Yazar

Hebra, Alexius J. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

38.

Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science

Yazar

Pavese, Franco. editor. Forbes, Alistair B. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4804-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

39.

Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology

Yazar

Osten, Wolfgang. editor. Kujawinska, Malgorzata. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03051-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

40.

Quality Assurance for Chemistry and Environmental Science Metrology from pH Measurement to Nuclear Waste Disposal

Yazar

Meinrath, G. author. Schneider, Petra. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71273-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

41.

Microwave Circuit Theory and Foundations of Microwave Metrology

Yazar

Engen, Glenn F.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1049/PBEL009E

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

42.

Handbook of surface and nanometrology

Yazar

Whitehouse, D. J. (David J.) Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

43.

Handbook of surface and nanometrology

Yazar

Whitehouse, D. J. (David J.) Whitehouse, D. J. (David J.). Handbook of surface metrology.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

44.

Clinical and Laboratory Medicine Textbook

Yazar

Ciaccio, Marcello. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

XX(522249.1)

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-3-031-24958-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

45.

Pattern Recognition and Machine Intelligence 6th International Conference, PReMI 2015, Warsaw, Poland, June 30 - July 3, 2015, Proceedings

Yazar

Kryszkiewicz, Marzena. editor. Bandyopadhyay, Sanghamitra. editor. Rybinski, Henryk. editor. Pal, Sankar K. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

XX(519185.1)

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-3-319-19941-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

46.

Pattern Recognition and Image Analysis 7th Iberian Conference, IbPRIA 2015, Santiago de Compostela, Spain, June 17-19, 2015, Proceedings

Yazar

Paredes, Roberto. editor. Cardoso, Jaime S. editor. Pardo, Xosé M. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

XX(519035.1)

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-3-319-19390-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

47.

Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications

Yazar

Liu, Zheng. editor. Ukida, Hiroyuki. editor. Ramuhalli, Pradeep. editor. Niel, Kurt. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

XX(518392.1)

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-1-4471-6741-9

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

48.

Optical devices in ophthalmology and optometry technology, design principles and clinical applications

Yazar

Donnerhacke, Karl-Heinz. Rill, Michael Stefan. Kaschke, Michael F.

Yer Numarası

ONLINE(342196.1)

Elektronik Erişim

John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648962

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

49.

Electrical impedance principles, measurement, and applications

Yazar

Callegaro, Luca.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

50.

Yasal metroloji

Yer Numarası

QC89.T9 Y37 2013

Format:

Durum

Beytepe Kütüphanesi~1

Rafta:
Kopya:

51.

100 years of superconductivity

Yazar

Rogalla, H. (Horst) Kes, P. H. (Peter H.)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

52.

Measurements with persons theory, methods, and implementation areas

Yazar

Berglund, Birgitta.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Click here to view

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

53.

Compound semiconductor radiation detectors

Yazar

Owens, Alan.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

54.

Coordinate measuring machines and systems

Yazar

Hocken, Robert J. Pereira, Paulo H.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

55.

Fundamentals of laser micromachining

Yazar

Schaeffer, Ronald D.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

56.

Computer network time synchronization the Network Time Protocol on Earth and in space

Yazar

Mills, David L.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

57.

Handbook of photonics for biomedical science

Yazar

Tuchin, V. V. (Valeri? Viktorovich)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

58.

Fundamental principles of engineering nanometrology

Yazar

Leach, R. K.

Yer Numarası

ONLINE(355774.1)

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781455777532
http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

59.

Fundamental principles of engineering nanometrology

Yazar

Leach, R. K.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

60.

Computer network time synchronization the network time protocol

Yazar

Mills, David L.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

	{displayName}	{count}
{error}