Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Regression analysis by example için kapak resmi
Regression analysis by example
Yazar 
Chatterjee, Samprit, 1938- Hadi, Ali S. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470055464
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112590318
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Regression models for time series analysis için kapak resmi
Regression models for time series analysis
Yazar 
Kedem, Benjamin, 1944- Fokianos, Konstantinos. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471266981
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley043/2002514463.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Nonparametric regression methods for longitudinal data analysis için kapak resmi
Nonparametric regression methods for longitudinal data analysis
Yazar 
Wu, Hulin. Zhang, Jin-Ting, 1964- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470009675
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112151850
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=44838&ref=toc
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Analyzing environmental data için kapak resmi
Analyzing environmental data
Yazar 
Piegorsch, Walter W. Bailer, A. John. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470012234
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Regression with social data modeling continuous and limited response variables için kapak resmi
Regression with social data modeling continuous and limited response variables
Yazar 
DeMaris, Alfred, 1946- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471677566
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/109741980
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Applied logistic regression için kapak resmi
Applied logistic regression
Yazar 
Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471722146
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/109855848
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley042/00036843.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Robust regression and outlier detection için kapak resmi
Robust regression and outlier detection
Yazar 
Rousseeuw, Peter J. Leroy, Annick M. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471725382
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets