Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
21 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Codes, Cryptology and Information Security 4th International Conference, C2SI 2023, Rabat, Morocco, May 29-31, 2023, Proceedings için kapak resmi
Codes, Cryptology and Information Security 4th International Conference, C2SI 2023, Rabat, Morocco, May 29-31, 2023, Proceedings
Yazar 
El Hajji, Said. editor. Mesnager, Sihem. editor. Souidi, El Mamoun. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(520866.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-33017-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
A Graduate Introduction to Numerical Methods From the Viewpoint of Backward Error Analysis için kapak resmi
A Graduate Introduction to Numerical Methods From the Viewpoint of Backward Error Analysis
Yazar 
Corless, Robert M. author. Fillion, Nicolas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332417.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8453-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
A student's guide to data and error analysis için kapak resmi
A student's guide to data and error analysis
Yazar 
Berendsen, Herman J. C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=366295
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Transportation systems reliability and safety için kapak resmi
Transportation systems reliability and safety
Yazar 
Dhillon, B. S. (Balbir S.), 1947-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Measurement error models, methods, and applications için kapak resmi
Measurement error models, methods, and applications
Yazar 
Buonaccorsi, John P.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Latent class analysis of survey error için kapak resmi
Latent class analysis of survey error
Yazar 
Biemer, Paul P. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470891155
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Measurements and their uncertainties a practical guide to modern error analysis için kapak resmi
Measurements and their uncertainties a practical guide to modern error analysis
Yazar 
Hughes, Ifan, 1968- Hase, Thomas.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=330634
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Dealing with uncertainties a guide to error analysis için kapak resmi
Dealing with uncertainties a guide to error analysis
Yazar 
Drosg, Manfred.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=287984
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Margins of error a study of reliability in survey measurement için kapak resmi
Margins of error a study of reliability in survey measurement
Yazar 
Alwin, Duane F. (Duane Francis), 1944- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0745/2006053191-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470146316
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Finite element analysis with error estimators an introduction to the FEM and adaptive error analysis for engineering students için kapak resmi
Finite element analysis with error estimators an introduction to the FEM and adaptive error analysis for engineering students
Yazar 
Akin, J. E.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750667227
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Optical bit error rate an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263060
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Measurement errors in surveys için kapak resmi
Measurement errors in surveys
Yazar 
Biemer, Paul P. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0626/2005270829-b.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10509849
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10509849
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets