Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment için kapak resmi
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment
Yazar 
Modarres, M. (Mohammad), author. Amiri, Mehdi, author. Jackson, Christopher, 1979- author.
Yer Numarası 
TA169.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119388692
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Smart Cards, Tokens, Security and Applications için kapak resmi
Smart Cards, Tokens, Security and Applications
Yazar 
Mayes, Keith. editor. Markantonakis, Konstantinos. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-50500-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets