Skip to:
Search Results
|
Content
|
Bottom
|
Search Facets
Giriş
|
Kütüphane Hesabım
|
Listelerim
|
|
Remember to clear the cache and close the browser window.
Search Limit
Tümü
E-Kitap
Dergiler
Beytepe Kütüphanesi
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi
Konservatuvar Kütüphanesi
Hukuk Kütüphanesi
Sosyal Bilimler Meslek Yüksek Okulu
DVD Koleksiyonu
Prof.Dr. Onur Bilge Kula Koleksiyonu
Rooms Restriction Values
Tüm Alanlar
Başlık
Yazar
Konu
ISBN
ISSN
13
Search Field
Tüm Alanlar
Target Value
Limit Value
Restriction Value
Arama:
Gelişmiş Arama
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış:
+
Yayın Yılı: 2009
Yazar
Dahil
Hariç
Hsu, Sheng-Fu.
(1)
Ker, Ming-Dou.
(1)
Strong, Alvin Wayne, 1946-
(1)
Konu
Dahil
Hariç
Electronic books.
(2)
Metal oxide semiconductors, Complementary -- Reliability.
(2)
CMOS-Schaltung.
(1)
COMPUTERS / Logic Design
(1)
Metal oxide semiconductors, Complementary -- Defects.
(1)
Schaltungsentwurf.
(1)
TECHNOLOGY & ENGINEERING -- Electronics -- Digital.
(1)
TECHNOLOGY & ENGINEERING -- Electronics -- Microelectronics.
(1)
TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / Logic
(1)
TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / VLSI & ULSI
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Materyal Türü
Dahil
Hariç
E-Kitap
Shelf Location
Dahil
Hariç
Elektronik Kütüphane
Kütüphane
Dahil
Hariç
Çevrimiçi Kütüphane
false
{sortLabel}
{alphabetical}
{relevance}
{include}
{exclude}
{facetName}
{results}
{displayName}
{count}
{error}
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
2 sonuç bulundu
1
Sıralama:
İlgiye Göre (Varsayılan)
Yıla Gore (Artan)
Yıla Gore (Azalan)
Başlık
Yazar
00
DEFAULT_TR
Liste seç
Geçici Liste
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
One or more items could not be added because you are not logged in.
1.
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası
ONLINE
Elektronik Erişim
IEEE Xplore
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format:
Durum
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2.
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
Yazar
Ker, Ming-Dou. Hsu, Sheng-Fu.
Yer Numarası
ONLINE
Elektronik Erişim
IEEE Xplore
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5453758
Format:
Durum
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
1
Go to:
Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets
