Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
75th anniversary of the transistor için kapak resmi
75th anniversary of the transistor
Yazar 
Nathan, Arokia, 1957- editor. Saha, Samar K., editor. Todi, Ravi M., editor.
Yer Numarası 
TK7871.9
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394202478
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes için kapak resmi
Design for Manufacturability From 1D to 4D for 90–22 nm Technology Nodes
Yazar 
Balasinski, Artur. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-1761-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets