Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Photovoltaic module reliability için kapak resmi
Photovoltaic module reliability
Yazar 
Wohlgemuth, J. (John), 1946- author.
Yer Numarası 
TK8322
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119459019
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability engineering and services için kapak resmi
Reliability engineering and services
Yazar 
Jin, Tongdan, author.
Yer Numarası 
TS173 .J56 2019
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119167020
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment için kapak resmi
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment
Yazar 
Modarres, M. (Mohammad), author. Amiri, Mehdi, author. Jackson, Christopher, 1979- author.
Yer Numarası 
TA169.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119388692
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Accelerated reliability and durability testing technology için kapak resmi
Accelerated reliability and durability testing technology
Yazar 
Klyatis, Lev M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
ebrary http://site.ebrary.com/id/10592157
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=693204
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Accelerated testing and validation testing, engineering, and management tools for lean development için kapak resmi
Accelerated testing and validation testing, engineering, and management tools for lean development
Yazar 
Porter, Alex.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Volltext http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750676533
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability için kapak resmi
Design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability
Yazar 
LuValle, Michael J., author. Lefevre, Bruce G. Kannan, SriRaman.
Yer Numarası 
TA169.3 .L88 2004
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets