Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling için kapak resmi
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Yazar 
Mahapatra, Souvik. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-81-322-2508-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Low-Power CMOS Digital Pixel Imagers for High-Speed Uncooled PbSe IR Applications için kapak resmi
Low-Power CMOS Digital Pixel Imagers for High-Speed Uncooled PbSe IR Applications
Yazar 
Margarit, Josep Maria. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-49962-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Copper Electrodeposition for Nanofabrication of Electronics Devices için kapak resmi
Copper Electrodeposition for Nanofabrication of Electronics Devices
Yazar 
Kondo, Kazuo. editor. Akolkar, Rohan N. editor. Barkey, Dale P. editor. Yokoi, Masayuki. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-9176-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets