Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Ingénierie des systèmes.
(5)
Electronic books.
(4)
Engineering.
(3)
Systems engineering
(3)
Electronics.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
13 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques için kapak resmi
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Yazar 
Sayil, Selahattin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems için kapak resmi
Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems
Yazar 
Zhang, Tianbiao. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27334-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Functional Verification Coverage Measurement and Analysis için kapak resmi
Functional Verification Coverage Measurement and Analysis
Yazar 
Piziali, Andrew. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b117979
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Supportability engineering handbook implementation, measurement, and management için kapak resmi
Supportability engineering handbook implementation, measurement, and management
Yazar 
Jones, James V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Compact Models and Measurement Techniques for High-Speed Interconnects için kapak resmi
Compact Models and Measurement Techniques for High-Speed Interconnects
Yazar 
Sharma, Rohit. author. Chakravarty, Tapas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1071-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Distributed Time-Sensitive Systems. için kapak resmi
Distributed Time-Sensitive Systems.
Yazar 
Choudhury, Tanupriy. Choudhury, Tanupriya/Singh, Rahul Kuma. Tomar, Ravi.
Yer Numarası 
TA168
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394197798
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Communication systems engineering with GNU Radio : a hands-on approach için kapak resmi
Communication systems engineering with GNU Radio : a hands-on approach
Yazar 
Friedt, Jean-Michel, author. Boeglen, Hervé, author.
Yer Numarası 
TK5103.4875 .F75 2025
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394218912
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Optimal and robust state estimation : finite impulse response (FIR) and Kalman approaches için kapak resmi
Optimal and robust state estimation : finite impulse response (FIR) and Kalman approaches
Yazar 
Shmaliy, Yuriy, author. Zhao, Shunyi, author.
Yer Numarası 
QA402.3 .S53 2022
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119863106
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Integrating program management and systems engineering : methods, tools, and organizational systems for improving performance için kapak resmi
Integrating program management and systems engineering : methods, tools, and organizational systems for improving performance
Yazar 
Rebentisch, Eric S., 1962- editor.
Yer Numarası 
T57.6 .I534 2017 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119363941
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Process engineering : facts, fiction, and fables için kapak resmi
Process engineering : facts, fiction, and fables
Yazar 
Lieberman, Norman P., author.
Yer Numarası 
TP155.75
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119370390
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors için kapak resmi
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors
Yazar 
Im, Seongil. author. Chang, Youn-Gyoung. author. Kim, Jae Hoon. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(336233.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Quantitative measurements for logistics için kapak resmi
Quantitative measurements for logistics
Yazar 
Frohne, Philip T. SOLE--The International Society of Logistics.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets