Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Digital design and fabrication için kapak resmi
Digital design and fabrication
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G.
Yer Numarası 
TK7885 .D54 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow için kapak resmi
Digital integrated circuits : design-for-test using Simulink and Stateflow
Yazar 
Perelroyzen, Evgeni.
Yer Numarası 
TK7874 .P445 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
The VLSI handbook için kapak resmi
The VLSI handbook
Yazar 
Chen, Wai-Kai, 1936-
Yer Numarası 
TK7874.75 .V573 2007
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Microelectronics için kapak resmi
Microelectronics
Yazar 
Whitaker, Jerry C.
Yer Numarası 
TK7874 .M4587 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
The Computer Engineering Handbook. için kapak resmi
The Computer Engineering Handbook.
Yazar 
Oklobdzija, Vojin G., author. CRC Press LLC.
Yer Numarası 
TK7885 .C645 2002
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781420041545
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits için kapak resmi
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Yazar 
Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-
Yer Numarası 
TK7874.75 B87 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques için kapak resmi
Digital circuit testing a guide to DFT and other techniques
Yazar 
Wang, Francis C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127345802
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Digital systems testing and testable design için kapak resmi
Digital systems testing and testable design
Yazar 
Abramovici, Miron. Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5266057
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets