Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Introduction to Instrumentation and Measurements için kapak resmi
Introduction to Instrumentation and Measurements
Yazar 
Northrop, Robert B., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
 TK7870 .N66 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Digital holography for MEMS and microsystem metrology için kapak resmi
Digital holography for MEMS and microsystem metrology
Yazar 
Asundi, Anand.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119997290
http://lib.myilibrary.com?id=317798
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=697681
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets