Search Results for Scanning electron microscopes.

Skip to:Search Results

|

|

|

|

Kütüphane Hesabım

|

|

|

Remember to clear the cache and close the browser window.

Search Limit

Rooms Restriction Values

13

Search Field

Target Value

Limit Value

Restriction Value

Arama:

Gelişmiş Arama

Arama Sonuçlarını Sınırlandır

Yazar

Brydson, Rik, editor, author.

(1)

Collinson, Lucy, 1974- editor.

(1)

De Graef, Marc.

(1)

Fleck, Roland A., 1970- editor.

(1)

Humbel, Bruno M., editor.

(1)

(1)

Li, Zhigang R., 1958-

(1)

Mendis, Budhika G., author.

(1)

Pant, K. K., editor.

(1)

Rameśacandra, editor.

(1)

Tomar, Ravi, editor.

(1)

Verkade, Paul, editor.

(1)

(1)

Tümünü genişlet

Dil

(8)

Yayın Yılı

-

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

Tümünü genişlet

Konu

(1)

(1)

Atomic force microscopy

(1)

Atomic force microscopy.

(1)

(1)

(1)

Diagnostic Imaging

(1)

Diagnostic imaging.

(1)

(1)

Electron beams -- Simulation methods.

(1)

Electron beams.

(1)

Electron microscopy

(1)

Electron microscopy -- Industrial applications.

(1)

Electron microscopy.

(1)

Faisceaux électroniques -- Méthodes de simulation.

(1)

Faisceaux électroniques.

(1)

Imagerie pour le diagnostic.

(1)

Magnetic resonance imaging.

(1)

Materials -- Microscopy.

(1)

Materials Science.

(1)

Microscopie à force atomique.

(1)

Microscopie électronique à balayage.

(1)

Microscopie électronique.

(1)

Microscopy -- methods

(1)

Microscopy, Electron, Scanning

(1)

Microscopy, Electron, Scanning -- instrumentation

(1)

Microscopy, Electron, Scanning -- methods

(1)

Multimodal Imaging -- trends

(1)

Optical Imaging -- methods

(1)

SCIENCE -- General.

(1)

SCIENCE -- Physics -- Electricity.

(1)

SCIENCE -- Physics -- Electromagnetism.

(1)

Scanning electron microscopes.

(1)

Scanning electron microscopy

(1)

Scanning electron microscopy.

(1)

TECHNOLOGY & ENGINEERING.

(1)

Transmission electron microscopy.

(1)

(1)

Tümünü genişlet

Materyal Türü

Shelf Location

CRC Ekitapları

Elektronik Kütüphane

Wiley E-Kitap Koleksiyonu

Kütüphane

Çevrimiçi Kütüphane

{sortLabel}

	{facetName}	{results}

	{displayName}	{count}
{error}

Liste görünümüne geç

Küçük resim görünümüne geç

8 sonuç bulundu

Arama sonuçlarına abone ol

1

00000000DEFAULT_TR

Yazdır

Liste seç

Bunu varsayılan liste yap.

Öğeler başarıyla eklendi

Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.

One or more items could not be added because you are not logged in.

1.

Solid base catalysts : synthesis, characterization,and applications için kapak resmi

Solid base catalysts : synthesis, characterization,and applications

Solid base catalysts : synthesis, characterization,and applications

Yazar

Tomar, Ravi, editor. Pant, K. K., editor. Rameśacandra, editor.

Yer Numarası

TP159 .C3 S65 2025

Elektronik Erişim

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527846719

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Correlative imaging : focusing on the future için kapak resmi

Correlative imaging : focusing on the future

Correlative imaging : focusing on the future

Yazar

Verkade, Paul, editor. Collinson, Lucy, 1974- editor.

Yer Numarası

RB43.5

Elektronik Erişim

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119086420

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Biological field emission scanning electron microscopy. Volume 1 için kapak resmi

Biological field emission scanning electron microscopy. Volume 1

Biological field emission scanning electron microscopy. Volume 1

Yazar

Fleck, Roland A., 1970- editor. Humbel, Bruno M., editor.

Yer Numarası

QH212 .S3 B56 2019

Elektronik Erişim

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118663233

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy için kapak resmi

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Yazar

Mendis, Budhika G., author.

Yer Numarası

QC793.5 .E622

Elektronik Erişim

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118696545

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials için kapak resmi

Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials

Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials

Yazar

Lanza, Mario.

Yer Numarası

QH212 .A78

Elektronik Erişim

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527699773

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy için kapak resmi

Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy

Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy

Yazar

Brydson, Rik, editor, author.

Yer Numarası

ONLINE(318971.1)

Elektronik Erişim

Connect to MyiLibrary resource.
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=693217
ebrary http://site.ebrary.com/id/10488537
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=509882
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119978848

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Industrial applications of electron microscopy için kapak resmi

Industrial applications of electron microscopy

Industrial applications of electron microscopy

Yazar

Li, Zhigang R., 1958-

Yer Numarası

TA417.23 .I52 2003

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

Magnetic imaging and its applications to materials için kapak resmi

Magnetic imaging and its applications to materials

Magnetic imaging and its applications to materials

Yazar

De Graef, Marc. Zhu, Yimei.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780124759831

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

1

Go to:Search Results

|

|

Copyright 2011 Sirsi Corporation - Enterprise Version 5.0.0.11