Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
10 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Selected tables in mathematical statistics için kapak resmi
Selected tables in mathematical statistics
Yazar 
Harter, Harman Leon, 1919- comp. Owen, Donald B.
Yer Numarası 
QA 276.25 H37 1970- V.1
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
A history of probability and statistics and their applications before 1750 için kapak resmi
A history of probability and statistics and their applications before 1750
Yazar 
Hald, Anders, 1913- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471725161
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Lisp-Stat an object-oriented environment for statistical computing and dynamic graphics için kapak resmi
Lisp-Stat an object-oriented environment for statistical computing and dynamic graphics
Yazar 
Tierney, Luke. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469968
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316818
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Robust estimation and testing için kapak resmi
Robust estimation and testing
Yazar 
Staudte, Robert G. Sheather, Simon J., ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 276.8 S74 1990
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Robust estimation and testing için kapak resmi
Robust estimation and testing
Yazar 
Staudte, Robert G. Sheather, Simon J. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Ebook Library Click here to view book
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Accelerated testing statistical models, test plans and data analyses için kapak resmi
Accelerated testing statistical models, test plans and data analyses
Yazar 
Nelson, Wayne, 1936-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469757
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316795
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley047/89024853.html
HathiTrust Digital Library Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/20454343.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Finding groups in data an introduction to cluster analysis için kapak resmi
Finding groups in data an introduction to cluster analysis
Yazar 
Kaufman, Leonard. Rousseeuw, Peter J. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316801
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Statistical methods in engineering and quality assurance için kapak resmi
Statistical methods in engineering and quality assurance
Yazar 
John, Peter William Meredith.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/21329921.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316825
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Introduction to statistical pattern recognition için kapak resmi
Introduction to statistical pattern recognition
Yazar 
Fukunaga, Keinosuke.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080478654
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Introduction to statistical pattern recognition için kapak resmi
Introduction to statistical pattern recognition
Yazar 
Fukunaga, Keinosuke.
Yer Numarası 
Q327 F85 1990
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets