Search Results for Error analysis (Mathematics).

Skip to:Search Results

|

|

|

|

Kütüphane Hesabım

|

|

|

Remember to clear the cache and close the browser window.

Search Limit

Rooms Restriction Values

13

Search Field

Target Value

Limit Value

Restriction Value

Arama:

Gelişmiş Arama

Arama Sonuçlarını Sınırlandır

Daraltılmış:

+

Konu: Error analysis (Mathematics)

Yazar

Wiley InterScience (Online service)

(5)

Biemer, Paul P.

(2)

Kartalopoulos, Stamatios V.

(2)

Ainsworth, Mark, 1965-

(1)

(1)

Alwin, Duane F. (Duane Francis), 1944-

(1)

(1)

Berendsen, Herman J. C.

(1)

Bevington, Philip R., 1933-

(1)

Buonaccorsi, John P.

(1)

(1)

Dow, John O., 1941-

(1)

Drosg, Manfred.

(1)

Fuller, Wayne A.

(1)

Gustafson, Paul, 1968-

(1)

(1)

Hlaváček, Ivan, 1933-

(1)

Hsu, David Y., 1945-

(1)

Hughes, Ifan, 1968-

(1)

IEEE Aerospace and Electronic Systems Society.

(1)

Jordache, Cornelius.

(1)

Narasimhan, Shankar.

(1)

Oden, J. Tinsley (John Tinsley), 1936-

(1)

Robinson, D. Keith, ort. yaz.

(1)

Stelzl, Ingeborg.

(1)

Taylor, John Robert, 1939-

(1)

Tümünü genişlet

Dil

(17)

(1)

Yayın Yılı

-

(5)

(3)

(2)

(2)

(2)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

Tümünü genişlet

Konu

Electronic books.

(4)

Finite element method.

(3)

Data transmission systems -- Quality control.

(2)

HATA ANALİZİ (MATEMATİK)

(2)

Optical communications -- Mathematics.

(2)

(2)

Ausreißerwert.

(1)

Automatic data collection systems.

(1)

Bayesian statistical decision theory.

(1)

Bias (Epidemiology)

(1)

Chemical process control -- Automation.

(1)

Data Collection -- methods.

(1)

(1)

EN KÜÇÜK KARELER.

(1)

Electrical engineering -- Mathematics.

(1)

Estimation theory.

(1)

FİZİKİ ÖLÇÜLER.

(1)

Hata Analizi (Matematik)

(1)

Hata analizi (Matematik)

(1)

(1)

MATEMATİKİ FİZİK.

(1)

Mathematical models.

(1)

Mathematical physics.

(1)

Messunsicherheit -- Fehlerrechnung.

(1)

Multivariate analysis.

(1)

Optik iletişim -- Matematik.

(1)

Physical measurements.

(1)

Prozessüberwachung.

(1)

Regression analysis.

(1)

Sampling (Statistics)

(1)

Sequential analysis.

(1)

Social sciences -- Statistical methods.

(1)

Sosyal Bilimler -- İstatistiksel Yöntemler.

(1)

(1)

Structural analysis (Engineering)

(1)

Uncertainty (Information theory)

(1)

Veri iletim sistemleri -- Kalite kontrolü.

(1)

ÇOKDEĞİŞKENLİ ANALİZ.

(1)

Tümünü genişlet

Materyal Türü

Shelf Location

Beytepe CD-ROM Koleksiyonu

Beytepe Genel Koleksiyon

Elektronik Kütüphane

Kütüphane

Beytepe Kütüphanesi

Çevrimiçi Kütüphane

{sortLabel}

	{facetName}	{results}

	{displayName}	{count}
{error}

Liste görünümüne geç

Küçük resim görünümüne geç

20 sonuç bulundu

Arama sonuçlarına abone ol

1 2

000000000000DEFAULT_TR

Yazdır

Liste seç

Bunu varsayılan liste yap.

Öğeler başarıyla eklendi

Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.

One or more items could not be added because you are not logged in.

1.

A student's guide to data and error analysis için kapak resmi

A student's guide to data and error analysis

A student's guide to data and error analysis

Yazar

Berendsen, Herman J. C.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=366295

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Measurement error models, methods, and applications için kapak resmi

Measurement error models, methods, and applications

Measurement error models, methods, and applications

Yazar

Buonaccorsi, John P.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Measurements and their uncertainties a practical guide to modern error analysis için kapak resmi

Measurements and their uncertainties a practical guide to modern error analysis

Measurements and their uncertainties a practical guide to modern error analysis

Yazar

Hughes, Ifan, 1968- Hase, Thomas.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=330634

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Latent class analysis of survey error için kapak resmi

Latent class analysis of survey error

Latent class analysis of survey error

Yazar

Biemer, Paul P. Wiley InterScience (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470891155

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Dealing with uncertainties a guide to error analysis için kapak resmi

Dealing with uncertainties a guide to error analysis

Dealing with uncertainties a guide to error analysis

Yazar

Drosg, Manfred.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=287984

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Margins of error a study of reliability in survey measurement için kapak resmi

Margins of error a study of reliability in survey measurement

Margins of error a study of reliability in survey measurement

Yazar

Alwin, Duane F. (Duane Francis), 1944- Wiley InterScience (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0745/2006053191-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470146316

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Finite element analysis with error estimators an introduction to the FEM and adaptive error analysis for engineering students için kapak resmi

Finite element analysis with error estimators an introduction to the FEM and adaptive error analysis for engineering students

Finite element analysis with error estimators an introduction to the FEM and adaptive error analysis for engineering students

Yazar

Akin, J. E.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750667227

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

Fehler und Fallen der Statistik : fèur Psychologen, Pèadagogen, Sozialwissenschaftler için kapak resmi

Fehler und Fallen der Statistik : fèur Psychologen, Pèadagogen, Sozialwissenschaftler

Fehler und Fallen der Statistik : fèur Psychologen, Pèadagogen, Sozialwissenschaftler

Yazar

Stelzl, Ingeborg.

Yer Numarası

HA29.5.G4 S73 2005

Format:

Durum

Beytepe Kütüphanesi~1

Rafta:
Kopya:

9.

Optical bit error rate : an estimation methodology için kapak resmi

Optical bit error rate : an estimation methodology

Optical bit error rate : an estimation methodology

Yazar

Kartalopoulos, Stamatios V.

Yer Numarası

TK5103.59 K363 2004

Format:

Durum

Beytepe Kütüphanesi~2

Rafta:
Kopya:

10.

Optical bit error rate an estimation methodology için kapak resmi

Optical bit error rate an estimation methodology

Optical bit error rate an estimation methodology

Yazar

Kartalopoulos, Stamatios V.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263060

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Uncertain input data problems and the worst scenario method için kapak resmi

Uncertain input data problems and the worst scenario method

Uncertain input data problems and the worst scenario method

Yazar

Hlaváček, Ivan, 1933- Chleboun, Jan. Babuška, Ivo.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444514356

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

12.

Measurement error and misclassification in statistics and epidemiology impacts and Bayesian adjustments için kapak resmi

Measurement error and misclassification in statistics and epidemiology impacts and Bayesian adjustments

Measurement error and misclassification in statistics and epidemiology impacts and Bayesian adjustments

Yazar

Gustafson, Paul, 1968-

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

1 2

Go to:Search Results

|

|

Copyright 2011 Sirsi Corporation - Enterprise Version 5.0.0.11