Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Electronic design automation synthesis, verification, and test için kapak resmi
Electronic design automation synthesis, verification, and test
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Chang, Yao-Wen. Cheng, Kwang-Ting, 1961-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123743640
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
System-on-chip test architectures nanometer design for testability için kapak resmi
System-on-chip test architectures nanometer design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Stroud, Charles E. Touba, Nur A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123739735
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
VLSI test principles and architectures design for testability için kapak resmi
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar 
Wang, Laung-Terng. Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D. Wen, Xiaoqing.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets