Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(377)
Pichler, Franz. editor.
(7)
Moreno-Díaz, Roberto. editor.
(5)
Quesada-Arencibia, Alexis. editor.
(5)
Barthès, Jean-Paul A. editor.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
2011
(67)
2010
(42)
2006
(40)
2012
(39)
2007
(38)
Konu
Engineering.
(253)
Systems engineering.
(144)
Computer science.
(118)
Engineering design.
(61)
Artificial intelligence.
(46)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
377 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
301. 
Routing Congestion in VLSI Circuits: Estimation and Optimization için kapak resmi
Routing Congestion in VLSI Circuits: Estimation and Optimization
Yazar 
Saxena, Prashant. author. Shelar, Rupesh S. author. Sapatnekar, Sachin S. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-48550-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
302. 
SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions için kapak resmi
SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions
Yazar 
Ganai, Malay K. author. Gupta, Aarti. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69167-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
303. 
Hardware Verification with SystemVerilog An Object-Oriented Framework için kapak resmi
Hardware Verification with SystemVerilog An Object-Oriented Framework
Yazar 
Mintz, Mike. author. Ekendahl, Robert. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71740-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
304. 
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS için kapak resmi
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Yazar 
Chiang, Charles C. author. Kawa, Jamil. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
305. 
Models for Computer Aided Tolerancing in Design and Manufacturing Selected Conference Papers from the 9th CIRP International Seminar on Computer-Aided Tolerancing, held at Arizona State University, Tempe, Arizona, USA, 10-12 April, 2005 için kapak resmi
Models for Computer Aided Tolerancing in Design and Manufacturing Selected Conference Papers from the 9th CIRP International Seminar on Computer-Aided Tolerancing, held at Arizona State University, Tempe, Arizona, USA, 10-12 April, 2005
Yazar 
Davidson, Joseph K. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5438-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
306. 
Large-Scale Scientific Computing 5th International Conference, LSSC 2005, Sozopol, Bulgaria, June 6-10, 2005. Revised Papers için kapak resmi
Large-Scale Scientific Computing 5th International Conference, LSSC 2005, Sozopol, Bulgaria, June 6-10, 2005. Revised Papers
Yazar 
Lirkov, Ivan. editor. Margenov, Svetozar. editor. Waśniewski, Jerzy. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11666806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
307. 
Computer Supported Cooperative Work in Design II 9th International Conference, CSCWD 2005, Coventry, UK, May 24-26, 2005, Revised Selected Papers için kapak resmi
Computer Supported Cooperative Work in Design II 9th International Conference, CSCWD 2005, Coventry, UK, May 24-26, 2005, Revised Selected Papers
Yazar 
Shen, Wei-ming. editor. Chao, Kuo-Ming. editor. Lin, Zongkai. editor. Barthès, Jean-Paul A. editor. James, Anne. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11686699
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
308. 
Intelligent Computing in Engineering and Architecture 13th EG-ICE Workshop 2006, Ascona, Switzerland, June 25-30, 2006, Revised Selected Papers için kapak resmi
Intelligent Computing in Engineering and Architecture 13th EG-ICE Workshop 2006, Ascona, Switzerland, June 25-30, 2006, Revised Selected Papers
Yazar 
Smith, Ian F. C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11888598
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
309. 
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits Techniques for low emission and susceptibility için kapak resmi
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits Techniques for low emission and susceptibility
Yazar 
Ben Dhia, Sonia. editor. Ramdani, Mohamed. editor. Sicard, Etienne. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137864
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
310. 
Leakage in Nanometer CMOS Technologies için kapak resmi
Leakage in Nanometer CMOS Technologies
Yazar 
Narendra, Siva G. author. Chandrakasan, Anantha. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28133-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
311. 
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation için kapak resmi
Scalable Hardware Verification with Symbolic Simulation
Yazar 
Bertacco, Valeria. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29906-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
312. 
Embedded System Design için kapak resmi
Embedded System Design
Yazar 
Marwedel, Peter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-30087-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç