Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Test und Verlässlichkeit von Rechnern için kapak resmi
Test und Verlässlichkeit von Rechnern
Yazar 
Kemnitz, Günter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-71355-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
Yazar 
Rajaram, S. editor. Balamurugan, N.B. editor. Gracia Nirmala Rani, D. editor. Singh, Virendra. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-5950-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Yazar 
Sengupta, Anirban. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. Sharma, Rohit. editor. Kumar Vishvakarma, Santosh. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers
Yazar 
Gaur, Manoj Singh. editor. Zwolinski, Mark. editor. Laxmi, Vijay. editor. Boolchandani, Dharmendra. editor. Sing, Virendra. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(335156.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date için kapak resmi
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date
Yazar 
Lauwereins, Rudy. editor. Madsen, Jan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6488-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems için kapak resmi
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems
Yazar 
Sonza Reorda, Matteo. editor. Peng, Zebo. editor. Violante, Massimo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-145-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: