Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Wiley InterScience (Online service)
(9)
Bauer, Eric.
(4)
Adams, Randee.
(2)
Schneidewind, Norman.
(2)
Alouini, Mohamed-Slim.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Reliability (Engineering)
(15)
Computer software -- Reliability.
(5)
Electronic apparatus and appliances -- Reliability.
(3)
Software engineering.
(3)
COMPUTERS -- Software Development & Engineering -- General.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
44 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Structural reliability için kapak resmi
Structural reliability
Yazar 
Lemaire, Maurice. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=477683
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470611708
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=216540&ref=toc
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10361215
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design for reliability için kapak resmi
Design for reliability
Yazar 
Raheja, Dev. Gullo, Louis J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Practical system reliability için kapak resmi
Practical system reliability
Yazar 
Bauer, Eric. Zhang, Xuemei. Kimber, Douglas A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=273294
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Probabilistic reliability models için kapak resmi
Probabilistic reliability models
Yazar 
Ushakov, I. A. (Igorʹ Alekseevich)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library Click here to view book
Available by subscription from Safari Books Online
Wiley InterScience http://dx.doi.org/10.1002/9781118370742
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=49723
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9781118370766
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Reliability and availability of cloud computing için kapak resmi
Reliability and availability of cloud computing
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266788
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Accelerated reliability and durability testing technology için kapak resmi
Accelerated reliability and durability testing technology
Yazar 
Klyatis, Lev M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
ebrary http://site.ebrary.com/id/10592157
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=693204
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Multistate systems reliability theory with applications için kapak resmi
Multistate systems reliability theory with applications
Yazar 
Natvig, Bent, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470977088
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10469650
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Reliability modeling, prediction, and optimization için kapak resmi
Reliability modeling, prediction, and optimization
Yazar 
Blischke, W. R., 1934- Murthy, D. N. P. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Ebook Library Click here to view book
Available by subscription from Safari Books Online
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley043/99053029.html
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/42708105.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Semiconductor memories technology, testing, and reliability için kapak resmi
Semiconductor memories technology, testing, and reliability
Yazar 
Sharma, Ashok K. IEEE Solid-State Circuits Council.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264189
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Telecommunications system reliability engineering, theory, and practice için kapak resmi
Telecommunications system reliability engineering, theory, and practice
Yazar 
Ayers, Mark L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6331044
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Rules of thumb for maintenance and reliability engineers için kapak resmi
Rules of thumb for maintenance and reliability engineers
Yazar 
Smith, Ricky. Mobley, R. Keith, 1943-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750678629
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: