Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Lock-in Thermography Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials için kapak resmi
Lock-in Thermography Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Yazar 
Breitenstein, Otwin. author. Warta, Wilhelm. author. Langenkamp, Martin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Bonding in Microsystem Technology için kapak resmi
Bonding in Microsystem Technology
Yazar 
Dziuban, Jan A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4589-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Proceedings of SIE 2022 53rd Annual Meeting of the Italian Electronics Society için kapak resmi
Proceedings of SIE 2022 53rd Annual Meeting of the Italian Electronics Society
Yazar 
Cocorullo, Giuseppe. editor. Crupi, Felice. editor. Limiti, Ernesto. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26066-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Selected Sensor Circuits From Data Sheet to Simulation için kapak resmi
Selected Sensor Circuits From Data Sheet to Simulation
Yazar 
Baumann, Peter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-658-38212-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Advanced Thermal Management Materials için kapak resmi
Advanced Thermal Management Materials
Yazar 
Jiang, Guosheng. author. Diao, Liyong. author. Kuang, Ken. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331292.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1963-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: