Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
12 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Comprehensive mass metrology için kapak resmi
Comprehensive mass metrology
Yazar 
Kochsiek, Manfred. Gläser, Michael, 1942- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/43419333.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527602992
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Handbook of Metrology and Applications için kapak resmi
Handbook of Metrology and Applications
Yazar 
Aswal, Dinesh K. editor. Yadav, Sanjay. editor. Takatsuji, Toshiyuki. editor. Rachakonda, Prem. editor. Kumar, Harish. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-2074-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Machine Tool Metrology An Industrial Handbook için kapak resmi
Machine Tool Metrology An Industrial Handbook
Yazar 
Smith, Graham T. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-25109-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Metrology and Measurement Uncertainty Concepts and Applications için kapak resmi
Metrology and Measurement Uncertainty Concepts and Applications
Yazar 
Novellino do Rosario, Pedro Paulo. author. Mendes, Alexandre. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-82303-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Coordinate Metrology Accuracy of Systems and Measurements için kapak resmi
Coordinate Metrology Accuracy of Systems and Measurements
Yazar 
Sładek, Jerzy A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-48465-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2024 için kapak resmi
Advances in Metrology Select Proceedings of AdMet 2024
Yazar 
Yadav, Sanjay. editor. Garg, Naveen. editor. Kumar, Mukesh. editor. Aggarwal, Shankar G. editor. Jaiswal, Shiv Kumar. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-96-6418-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
The economics and science of measurement : a study of metrology için kapak resmi
The economics and science of measurement : a study of metrology
Yazar 
Link, Albert N., author.
Yer Numarası 
QC91
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003186953
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Faraday Laser A Frequency-Stabilized Diode Laser Based on Faraday Atomic Optical Filters için kapak resmi
Faraday Laser A Frequency-Stabilized Diode Laser Based on Faraday Atomic Optical Filters
Yazar 
Chen, Jingbiao. author. (orcid)0000-0001-9802-4577 Shi, Tiantian. author. (orcid)0000-0001-9714-0445 Pan, Duo. author. (orcid)0000-0001-7794-8922 Ge, Zheyi. author. (orcid)0009-0002-9490-7684 Zhang, Jia. author. (orcid)0000-0001-8682-8287
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-97-8023-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Advances in Manufacturing IV Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications için kapak resmi
Advances in Manufacturing IV Volume 4 - Measurement and Control Systems: Digitalization, Sustainability and Industry Applications
Yazar 
Diering, Magdalena. editor. Wieczorowski, Michał. editor. (orcid)0000-0001-7526-8368 Harugade, Mukund. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-56467-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Handbook of Visual Display Technology için kapak resmi
Handbook of Visual Display Technology
Yazar 
Chen, Janglin. editor. Cranton, Wayne. editor. Fihn, Mark. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-14346-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Evaluating the measurement uncertainty : fundamentals and practical guidance için kapak resmi
Evaluating the measurement uncertainty : fundamentals and practical guidance
Yazar 
Lira, Ignacio, 1951- author.
Yer Numarası 
T50
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367801564
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Handbook of mass measurement için kapak resmi
Handbook of mass measurement
Yazar 
Jones, Frank E., author. Schoonover, Randall M.
Yer Numarası 
QC106 .J66 2002
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: