Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
30 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Acoustic Scanning Probe Microscopy için kapak resmi
Acoustic Scanning Probe Microscopy
Yazar 
Marinello, Francesco. editor. Passeri, Daniele. editor. Savio, Enrico. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333153.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27494-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied Scanning Probe Methods XII Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods XII Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85039-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applied Scanning Probe Methods IX Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods IX Characterization
Yazar 
Tomitori, Masahiko. editor. Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Roadmap of Scanning Probe Microscopy için kapak resmi
Roadmap of Scanning Probe Microscopy
Yazar 
Morita, Seizo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34315-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11776314
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Applied Scanning Probe Methods III Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods III Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138285
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis için kapak resmi
Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis
Yazar 
Pennycook, Stephen J. editor. Nellist, Peter D. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy için kapak resmi
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
Yazar 
Shimizu, Kenichi. author. Mitani, Tomoaki. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03160-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications için kapak resmi
Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications
Yazar 
Zhou, Weilie. editor. Wang, Zhong Lin. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138289
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333137.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25414-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: