Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(435)
Pichler, Franz. editor.
(7)
Yarwood, A. (Alfred), 1917-
(6)
Gero, John S. editor.
(5)
Gindis, Elliot.
(5)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer aided design.
(377)
Engineering.
(256)
Systems engineering.
(145)
Computer science.
(120)
Computer-aided design.
(92)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
751 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
421. 
Security in Embedded Devices için kapak resmi
Security in Embedded Devices
Yazar 
Gebotys, Catherine H. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-1530-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
422. 
Design and Verification of Microprocessor Systems for High-Assurance Applications için kapak resmi
Design and Verification of Microprocessor Systems for High-Assurance Applications
Yazar 
Hardin, David S. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-1539-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
423. 
Scalable Techniques for Formal Verification için kapak resmi
Scalable Techniques for Formal Verification
Yazar 
Ray, Sandip. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5998-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
424. 
A Practical Introduction to Hardware/Software Codesign için kapak resmi
A Practical Introduction to Hardware/Software Codesign
Yazar 
Schaumont, Patrick R. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6000-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
425. 
Processor and System-on-Chip Simulation için kapak resmi
Processor and System-on-Chip Simulation
Yazar 
Leupers, Rainer. editor. Temam, Olivier. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6175-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
426. 
Low Power Hardware Synthesis from Concurrent Action-Oriented Specifications için kapak resmi
Low Power Hardware Synthesis from Concurrent Action-Oriented Specifications
Yazar 
Singh, Gaurav. author. Shukla, Sandeep K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6481-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
427. 
Software Automatic Tuning From Concepts to State-of-the-Art Results için kapak resmi
Software Automatic Tuning From Concepts to State-of-the-Art Results
Yazar 
Naono, Ken. editor. Teranishi, Keita. editor. Cavazos, John. editor. Suda, Reiji. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6935-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
428. 
Composing Software Components A Software-testing Perspective için kapak resmi
Composing Software Components A Software-testing Perspective
Yazar 
Hamlet, Dick. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7148-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
429. 
CAD and GIS integration için kapak resmi
CAD and GIS integration
Yazar 
Karimi, Hassan A. Akinci, Burcu.
Yer Numarası 
G70.28 C33 2010
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
430. 
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices için kapak resmi
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
431. 
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations için kapak resmi
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations
Yazar 
Garg, Rajesh. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
432. 
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies için kapak resmi
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Yazar 
Bosio, Alberto. author. Dilillo, Luigi. author. Girard, Patrick. author. Pravossoudovitch, Serge. author. Virazel, Arnaud. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç