Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(541)
Moreno-Díaz, Roberto. editor.
(8)
Pichler, Franz. editor.
(7)
Yarwood, A. (Alfred), 1917-
(6)
Eynard, Benoit. editor.
(5)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Computer aided design.
(377)
Engineering.
(256)
Systems engineering.
(145)
Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design.
(129)
Computer science.
(123)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
857 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
613. 
Pro/MECHANICA® verstehen lernen ab Version Wildfire 4.0 için kapak resmi
Pro/MECHANICA® verstehen lernen ab Version Wildfire 4.0
Yazar 
Kloninger, Paul. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-89018-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
614. 
Analysis, Architectures and Modelling of Embedded Systems Third IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2009, Langenargen, Germany, September 14-16, 2009. Proceedings için kapak resmi
Analysis, Architectures and Modelling of Embedded Systems Third IFIP TC 10 International Embedded Systems Symposium, IESS 2009, Langenargen, Germany, September 14-16, 2009. Proceedings
Yazar 
Rettberg, Achim. editor. Zanella, Mauro C. editor. Amann, Michael. editor. Keckeisen, Michael. editor. Rammig, Franz J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04284-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
615. 
Control and Automation International Conference, CA 2009, Held as Part of the Future Generation Information Technology Conference, CA 2009, Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009.Proceedings için kapak resmi
Control and Automation International Conference, CA 2009, Held as Part of the Future Generation Information Technology Conference, CA 2009, Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009.Proceedings
Yazar 
Ślęzak, Dominik. editor. Kim, Tai-hoon. editor. Stoica, Adrian. editor. Kang, Byeong-Ho. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10741-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
616. 
Isogeometric analysis toward integration of CAD and FEA için kapak resmi
Isogeometric analysis toward integration of CAD and FEA
Yazar 
Cottrell, J. Austin. Hughes, Thomas J. R. Bazilevs, Yuri. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=454286
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470749081
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10325824
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
617. 
Introduction to AutoCAD 2010 2D and 3D design için kapak resmi
Introduction to AutoCAD 2010 2D and 3D design
Yazar 
Yarwood, A. (Alfred), 1917-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
618. 
Introduction to Autocad 2010 2D and 3D design için kapak resmi
Introduction to Autocad 2010 2D and 3D design
Yazar 
Yarwood, A. (Alfred), 1917-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to online version from Referex Mechanical Engineering and Materials. Restricted to SIAST staff and students.
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781856178686
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
619. 
Computer-Aided Innovation (CAI) IFIP 20th World Computer Congress, Proceedings of the Second Topical Session on Computer-Aided Innovation, WG 5.4/TC 5 Computer-Aided Innovation, September 7-10, 2008, Milano, Italy için kapak resmi
Computer-Aided Innovation (CAI) IFIP 20th World Computer Congress, Proceedings of the Second Topical Session on Computer-Aided Innovation, WG 5.4/TC 5 Computer-Aided Innovation, September 7-10, 2008, Milano, Italy
Yazar 
Cascini, Gaetano. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-09697-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
620. 
Power Distribution Networks with On-Chip Decoupling Capacitors için kapak resmi
Power Distribution Networks with On-Chip Decoupling Capacitors
Yazar 
Popovich, Mikhhail. author. Mezhiba, Andrey V. author. Friedman, Eby G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71601-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
621. 
Standardized Functional Verification için kapak resmi
Standardized Functional Verification
Yazar 
Wiemann, Alan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71733-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
622. 
Rapid Prototyping of Digital Systems için kapak resmi
Rapid Prototyping of Digital Systems
Yazar 
Hamblen, James O. author. Hall, Tyson S. author. Furman, Michael D. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-72671-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
623. 
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests için kapak resmi
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Ahmed, Nisar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
624. 
Reverse Engineering An Industrial Perspective için kapak resmi
Reverse Engineering An Industrial Perspective
Yazar 
Raja, Vinesh. editor. Fernandes, Kiran J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84628-856-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç