Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
John Wiley & Sons, publisher.
(12)
SpringerLink (Online service)
(7)
Mohanty, Sachi Nandan, editor.
(6)
Chapple, Mike, author.
(4)
Edwards, Jason (Cybersecurity expert), author.
(4)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(263)
COMPUTERS.
(154)
Computer security.
(83)
Sécurité informatique.
(83)
Security.
(48)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
511 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
493. 
Next generation of data mining applications için kapak resmi
Next generation of data mining applications
Yazar 
Kantardzic, Mehmed. Zurada, Jozef, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5769527
IEEE Xplore. http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5769527
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
494. 
Object-oriented software engineering : practical software development using UML and Java için kapak resmi
Object-oriented software engineering : practical software development using UML and Java
Yazar 
Lethbridge, Timothy Christian, 1963- Laganiere, Robert. King, Catriona.
Yer Numarası 
QA76.64 .L647 2005
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
495. 
Cryptography, information theory, and error-correction : a handbook for the 21st century için kapak resmi
Cryptography, information theory, and error-correction : a handbook for the 21st century
Yazar 
Bruen, Aiden A., 1941- Forcinito, Mario, 1962-
Yer Numarası 
QA76.9 .A25 B79 2005
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118033296
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119582397
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
496. 
Design through Verilog HDL için kapak resmi
Design through Verilog HDL
Yazar 
Patman̲āpan̲, Ṭi. Ār. Tripura Sundari, B. Bala. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5236707
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
497. 
Principles of object-oriented modeling and simulation with Modelica 2.1 için kapak resmi
Principles of object-oriented modeling and simulation with Modelica 2.1
Yazar 
Fritzson, Peter A., 1952-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264314
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
498. 
Intelligent image processing için kapak resmi
Intelligent image processing
Yazar 
Mann, Steve, 1962-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201688
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
499. 
High performance mass storage and parallel I/O technologies and applications için kapak resmi
High performance mass storage and parallel I/O technologies and applications
Yazar 
Jin, Hai. Cortes, Toni. Buyya, Rajkumar, 1970-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263068
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
500. 
Neural networks and artificial intelligence for biomedical engineering için kapak resmi
Neural networks and artificial intelligence for biomedical engineering
Yazar 
Hudson, D. L. (Donna L.) Cohen, M. E. (Maurice E.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263228
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
501. 
Ones and zeros understanding Boolean algebra, digital circuits, and the logic of sets için kapak resmi
Ones and zeros understanding Boolean algebra, digital circuits, and the logic of sets
Yazar 
Gregg, John.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263072
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
502. 
Modeling for reliability analysis Markov modeling for reliability, maintainability, safety, and supportability analyses of complex computer systems için kapak resmi
Modeling for reliability analysis Markov modeling for reliability, maintainability, safety, and supportability analyses of complex computer systems
Yazar 
Pukite, Jan, 1928- Pukite, Paul.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263338
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
503. 
WordNet an electronic lexical database için kapak resmi
WordNet an electronic lexical database
Yazar 
Fellbaum, Christiane.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267389
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
504. 
Object-oriented simulation reusability, adaptability, maintainability için kapak resmi
Object-oriented simulation reusability, adaptability, maintainability
Yazar 
Zobrist, George W. (George Winston), 1934- Leonard, James V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263105
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç