Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Institute of Electrical and Electronics Engineers.
(25)
IEEE Antennas and Propagation Society.
(4)
Engheta, N. (Nader)
(3)
IEEE Circuits and Systems Society.
(3)
IEEE Communications Society.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(41)
Electromagnetism.
(5)
Elektrik Elektronik Mühendisliği -- Süreli yayınlar
(4)
Metamaterials.
(3)
Neural networks (Computer science)
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
70 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
37. 
Discrete-time processing of speech signals için kapak resmi
Discrete-time processing of speech signals
Yazar 
Deller, John R. Hansen, John H. L., ort. yaz. Proakis, John G., ort. yaz.
Yer Numarası 
TK 7882.S65 D44 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
38. 
Neural networks and artificial intelligence for biomedical engineering için kapak resmi
Neural networks and artificial intelligence for biomedical engineering
Yazar 
Hudson, Donna L. Cohen, Maurice E., ort. yaz.
Yer Numarası 
R 859.7.A78 H84 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
39. 
Fundamentals of convolutional coding için kapak resmi
Fundamentals of convolutional coding
Yazar 
Johannesson, Rolf, 1946- Zigangirov, K. Sh. IEEE Communications Society. IEEE Information Theory Society. Vehicular Technology Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5265339
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
40. 
Planning telecommunication networks için kapak resmi
Planning telecommunication networks
Yazar 
Robertazzi, Thomas G. IEEE Communications Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263905
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
41. 
Integrated circuit manufacturability the art of process and design integration için kapak resmi
Integrated circuit manufacturability the art of process and design integration
Yazar 
Pineda de Gyvez, José. Pradhan, Dhiraj K. IEEE Circuits and Systems Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5265097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
42. 
Direct digital frequency synthesizers için kapak resmi
Direct digital frequency synthesizers
Yazar 
Kroupa, Věnceslav F., 1923-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5443866
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
43. 
Electronic and photonic circuits and devices için kapak resmi
Electronic and photonic circuits and devices
Yazar 
Waynant, Ronald W. Lowell, John. IEEE Circuits and Systems Society. Components, Packaging & Manufacturing Technology Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263558
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
44. 
Engineering networks for synchronization, CCS 7, and ISDN standards, protocols, planning, and testing için kapak resmi
Engineering networks for synchronization, CCS 7, and ISDN standards, protocols, planning, and testing
Yazar 
Bhatnagar, P. K., 1948- IEEE Communications Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273657
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
45. 
Standard for use of the International System of Units (SI) : the modern metric system için kapak resmi
Standard for use of the International System of Units (SI) : the modern metric system
Yazar 
American Society for Testing and Materials.
Yer Numarası 
QC91 S82 1997
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
46. 
Semiconductor memories technology, testing, and reliability için kapak resmi
Semiconductor memories technology, testing, and reliability
Yazar 
Sharma, Ashok K. IEEE Solid-State Circuits Council.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264189
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
47. 
Understanding neural networks and fuzzy logic basic concepts and applications için kapak resmi
Understanding neural networks and fuzzy logic basic concepts and applications
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V. IEEE Neural Networks Council.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273099
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
48. 
Understanding electro-mechanical engineering an introduction to mechatronics için kapak resmi
Understanding electro-mechanical engineering an introduction to mechatronics
Yazar 
Kamm, Lawrence J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273061
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç