Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(803)
Wiley InterScience (Online service)
(27)
Dixit, Manish S. editor.
(11)
Jaiswal, Sumeet S. editor.
(11)
Bitsch, Friedemann. editor. (orcid)0000-0001-6152-4121
(10)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronic books.
(215)
System safety.
(153)
Engineering.
(138)
Reliability (Engineering)
(130)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(96)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
1665 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Intelligent prognostics for engineering systems with machine learning techniques için kapak resmi
Intelligent prognostics for engineering systems with machine learning techniques
Yazar 
Soni, Gunjan, editor. Yadav, Om Prakash, 1964- editor. Badhotiya, Gaurav Kumar, editor. Ram, Mangey, editor.
Yer Numarası 
TA153
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003434849
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Operations research : methods, techniques, and advancements için kapak resmi
Operations research : methods, techniques, and advancements
Yazar 
Kumar, Amit, editor. Ram, Mangey, editor.
Yer Numarası 
T57.6
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003156291
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Predictive analytics : modeling and optimization için kapak resmi
Predictive analytics : modeling and optimization
Yazar 
Kumar, Vijay, editor. Ram, Mangey, editor.
Yer Numarası 
TA340
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003083177
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Applied systems analysis : science and art of solving real-life problems için kapak resmi
Applied systems analysis : science and art of solving real-life problems
Yazar 
Tarasenko, F. P. (Feliks Petrovich), author.
Yer Numarası 
T57.6
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003054290
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Diagnosis and fault-tolerant control. 1, Data-driven and model-based fault diagnosis techniques için kapak resmi
Diagnosis and fault-tolerant control. 1, Data-driven and model-based fault diagnosis techniques
Yazar 
Puig, Vicenç, editor. Simani, Silvio, 1971- editor.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119882329
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Diagnosis and fault-tolerant control. 2, From fault diagnosis to fault-tolerant control için kapak resmi
Diagnosis and fault-tolerant control. 2, From fault diagnosis to fault-tolerant control
Yazar 
Puig, Vicenç, editor. Simani, Silvio, 1971- editor.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119882350
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Lubrication degradation : getting into the root causes için kapak resmi
Lubrication degradation : getting into the root causes
Yazar 
Mathura, Sanya, author. Latino, Robert J., author.
Yer Numarası 
TJ1077
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003252030
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Design for excellence in electronics manufacturing için kapak resmi
Design for excellence in electronics manufacturing
Yazar 
Tulkoff, Cheryl, author. Caswell, Greg, author.
Yer Numarası 
TK7870 .T845 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119109402
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard. Pougnet, Philippe. El Hami, Abdelkhalak.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard, author. Pougnet, Philippe, author. El Hami, Abdelkhalak, author.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119818984
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Stochastic risk analysis and management için kapak resmi
Stochastic risk analysis and management
Yazar 
Harlamov, Boris, author.
Yer Numarası 
HD61
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119388883
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Fluid-structure interactions and uncertainties : Ansys and fluent tools için kapak resmi
Fluid-structure interactions and uncertainties : Ansys and fluent tools
Yazar 
El Hami, Abdelkhalak, author. Radi, Bouchaïb, author.
Yer Numarası 
TA357.5 .F58 E44 2017 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119388937
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç