Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
IEEE spectrum. için kapak resmi
IEEE spectrum.
Yazar 
Institute of Electrical and Electronics Engineers.
Yer Numarası 
ALFABETİK V.1967 OCT-1968 JUN
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~7 ~0
Rafta:
Kopya:
2. 
Micromechanics and MEMS classic and seminal papers to 1990 için kapak resmi
Micromechanics and MEMS classic and seminal papers to 1990
Yazar 
Trimmer, W. Institute of Electrical and Electronics Engineers.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273520
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Semiconductor memories technology, testing, and reliability için kapak resmi
Semiconductor memories technology, testing, and reliability
Yazar 
Sharma, Ashok K. IEEE Solid-State Circuits Council.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264189
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Engineering networks for synchronization, CCS 7, and ISDN standards, protocols, planning, and testing için kapak resmi
Engineering networks for synchronization, CCS 7, and ISDN standards, protocols, planning, and testing
Yazar 
Bhatnagar, P. K., 1948- IEEE Communications Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273657
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Standard for use of the International System of Units (SI) : the modern metric system için kapak resmi
Standard for use of the International System of Units (SI) : the modern metric system
Yazar 
American Society for Testing and Materials.
Yer Numarası 
QC91 S82 1997
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: