Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
17 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines için kapak resmi
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Yazar 
Drechsler, Rolf. author. Eggersglüβ, Stephan. author. Fey, Görschwin. author. Tille, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2360-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test için kapak resmi
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test
Yazar 
Chandrasekharan, Arun. author. Große, Daniel. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98965-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques için kapak resmi
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
Yazar 
Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability için kapak resmi
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Yazar 
Eggersglüß, Stephan. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration için kapak resmi
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration
Yazar 
Zjajo, Amir. author. Pineda de Gyvez, José. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test için kapak resmi
RF MEMS Switches and Integrated Switching Circuits Design, Fabrication, and Test
Yazar 
Liu, Ai-Qun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-46262-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date için kapak resmi
Design, Automation, and Test in Europe The Most Influential Papers of 10 Years Date
Yazar 
Lauwereins, Rudy. editor. Madsen, Jan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6488-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: