Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach için kapak resmi
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach
Yazar 
Rabinovich, Semyon G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332097.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6717-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Optical Measurement of Surface Topography için kapak resmi
Optical Measurement of Surface Topography
Yazar 
Leach, Richard. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-12012-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach için kapak resmi
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach
Yazar 
Rabinovich, Semyon G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-1456-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Springer Handbook of Materials Measurement Methods için kapak resmi
Springer Handbook of Materials Measurement Methods
Yazar 
Czichos, Horst. editor. Saito, Tetsuya. editor. Smith, Leslie. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-30300-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Units of Measurement Past, Present and Future. International System of Units için kapak resmi
Units of Measurement Past, Present and Future. International System of Units
Yazar 
Gupta, S. V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-00738-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Computational Electromagnetics and Model-Based Inversion A Modern Paradigm for Eddy-Current Nondestructive Evaluation için kapak resmi
Computational Electromagnetics and Model-Based Inversion A Modern Paradigm for Eddy-Current Nondestructive Evaluation
Yazar 
Sabbagh, Harold A. author. Murphy, R. Kim. author. Sabbagh, Elias H. author. Aldrin, John C. author. Knopp, Jeremy S. author.
Yer Numarası 
ONLINE(330843.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8429-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Ellipsometry at the Nanoscale için kapak resmi
Ellipsometry at the Nanoscale
Yazar 
Losurdo, Maria. editor. Hingerl, Kurt. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333782.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33956-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Nondestructive Testing of Materials and Structures için kapak resmi
Nondestructive Testing of Materials and Structures
Yazar 
Büyüköztürk, Oral. author. Taşdemir, Mehmet Ali. author. Güneş, Oğuz. editor. Akkaya, Yılmaz. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335698.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-0723-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: