Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
An introduction to surface analysis by XPS and AES için kapak resmi
An introduction to surface analysis by XPS and AES
Yazar 
Watts, John F., author. Wolstenholme, John, author.
Yer Numarası 
TP156 .S95
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119417651
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Surface and thin film analysis a compendium of principles, instrumentation, and applications için kapak resmi
Surface and thin film analysis a compendium of principles, instrumentation, and applications
Yazar 
Friedbacher, Gernot. Bubert, H. (Henning) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Core level spectroscopy of solids için kapak resmi
Core level spectroscopy of solids
Yazar 
Groot, Frank de, 1964, author. Kotani, A. (Akio), 1941-
Yer Numarası 
QC176.8 .O6 G76 2008
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Surface and thin film analysis principles, instrumentation, applications için kapak resmi
Surface and thin film analysis principles, instrumentation, applications
Yazar 
Bubert, H. (Henning) Jenett, H. (Holger) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527600167
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: