Search Results for Testing.

1.

Pistons and engine testing

Yazar

MAHLE GmbH. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-8662-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Multiphysical Testing of Soils and Shales

Yazar

Laloui, Lyesse. editor. Ferrari, Alessio. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(333583.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-32492-5

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Nondestructive Testing of Materials and Structures

Yazar

Büyüköztürk, Oral. author. Taşdemir, Mehmet Ali. author. Güneş, Oğuz. editor. Akkaya, Yılmaz. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(335698.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-0723-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Non-destructive Testing and Repair of Pipelines

Yazar

Barkanov, Evgeny N. editor. Dumitrescu, Andrei. editor. Parinov, Ivan A. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

https://doi.org/10.1007/978-3-319-56579-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Design and Testing of Digital Microfluidic Biochips

Yazar

Zhao, Yang. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(331239.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0370-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault

Yazar

Wunderlich, Hans-Joachim. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3282-9

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition

Yazar

Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

Finite Element Analysis for Satellite Structures Applications to Their Design, Manufacture and Testing

Yazar

Abdelal, Gasser F. author. Abuelfoutouh, Nader. author. Gad, Ahmed H. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(331031.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-4637-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

9.

Proceedings of the FISITA 2012 World Automotive Congress Volume 8: Vehicle Design and Testing (II).

Yazar

SAE-China. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(333744.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33738-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

10.

Proceedings of the FISITA 2012 World Automotive Congress Volume 7: Vehicle Design and Testing (I).

Yazar

SAE-China. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(333763.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33835-9

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Advances in Interlaboratory Testing and Evaluation of Bituminous Materials State-of-the-Art Report of the RILEM Technical Committee 206-ATB

Yazar

Partl, Manfred N. editor. Bahia, Hussain U. editor. Canestrari, Francesco. editor. de la Roche, Chantal. editor. Di Benedetto, Hervé. editor.

Yer Numarası

ONLINE(335888.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-5104-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

12.

Computational Flight Testing Results of the Closing Symposium of the German Research Initiative ComFliTe, Braunschweig, Germany, June 11th-12th, 2012

Yazar

Kroll, Norbert. editor. Radespiel, Rolf. editor. Burg, Jan Willem. editor. Sørensen, Kaare. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(334689.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38877-4

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

13.

Role of Seismic Testing Facilities in Performance-Based Earthquake Engineering SERIES Workshop

Yazar

Fardis, Michael N. editor. Rakicevic, Zoran T. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1977-4

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

14.

The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects

Yazar

Grossmann, Günter. editor. Zardini, Christian. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-236-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

15.

Split Hopkinson (Kolsky) Bar Design, Testing and Applications

Yazar

Chen, Weinong. author. Song, Bo. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7982-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

16.

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Yazar

Girard, Patrick. editor. Nicolici, Nicola. editor. Wen, Xiaoqing. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

17.

Virtual Testing and Predictive Modeling For Fatigue and Fracture Mechanics Allowables

Yazar

Farahmand, Bahram. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-95924-5

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

18.

Acoustic Emission Testing Basics for Research - Applications in Civil Engineering

Yazar

Grosse, Christian. editor. Ohtsu, Masayasu. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-69972-9

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

19.

Modern Testing Techniques for Structural Systems Dynamics and Control

Yazar

Bursi, Oreste S. editor. Wagg, David. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-09445-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

20.

Soft Errors in Modern Electronic Systems

Yazar

Nicolaidis, Michael. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

21.

Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability

Yazar

Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

22.

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test

Yazar

Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

23.

New Methods of Concurrent Checking

Yazar

Göessel, Michael. author. Ocheretny, Vitaly. author. Sogomonyan, Egor. author. Marienfeld, Daniel. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8420-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

24.

Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting

Yazar

Gizopoulos, Dimitris. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

25.

Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter

Yazar

Maichen, Wolfgang. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-31419-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

26.

The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500™

Yazar

Silva, Francisco. author. McLaurin, Teresa. author. Waayers, Tom. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34609-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

27.

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Yazar

Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

28.

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Yazar

Huisman, Leendert M. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b137446

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

29.

Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

Yazar

Kabisatpathy, Prithviraj. author. Barua, Alok. author. Sinha, Satyabroto. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b135977

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

30.

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Yazar

Larsson, Erik. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b135763

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

31.

Sensor technologies for civil infrastructures. Volume 2, Applications in structural health monitoring

Yazar

Wang, M. L., editor. Lynch, Jerome P. (Jerome Peter), editor. Sohn, H. (Hoon), editor.

Yer Numarası

ONLINE(355767.1)

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781782422426

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

32.

Networks-on-Chips : Theory and Practice

Yazar

El-Kharashi, Mohamed Watheq, editor. Elmiligi, Haytham, editor. Gebali, Fayez, editor. Taylor and Francis.

Yer Numarası

TK5105.546

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

33.

Handbook of carbon, graphite, diamond, and fullerenes properties, processing, and applications

Yazar

Pierson, Hugh O.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815513391

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

	{displayName}	{count}
{error}