Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
20 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
A student's guide to data and error analysis için kapak resmi
A student's guide to data and error analysis
Yazar 
Berendsen, Herman J. C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=366295
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Measurement error models, methods, and applications için kapak resmi
Measurement error models, methods, and applications
Yazar 
Buonaccorsi, John P.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Latent class analysis of survey error için kapak resmi
Latent class analysis of survey error
Yazar 
Biemer, Paul P. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470891155
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Measurements and their uncertainties a practical guide to modern error analysis için kapak resmi
Measurements and their uncertainties a practical guide to modern error analysis
Yazar 
Hughes, Ifan, 1968- Hase, Thomas.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=330634
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Dealing with uncertainties a guide to error analysis için kapak resmi
Dealing with uncertainties a guide to error analysis
Yazar 
Drosg, Manfred.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=287984
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Margins of error a study of reliability in survey measurement için kapak resmi
Margins of error a study of reliability in survey measurement
Yazar 
Alwin, Duane F. (Duane Francis), 1944- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0745/2006053191-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470146316
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Fehler und Fallen der Statistik : fèur Psychologen, Pèadagogen, Sozialwissenschaftler için kapak resmi
Fehler und Fallen der Statistik : fèur Psychologen, Pèadagogen, Sozialwissenschaftler
Yazar 
Stelzl, Ingeborg.
Yer Numarası 
HA29.5.G4 S73 2005
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Finite element analysis with error estimators an introduction to the FEM and adaptive error analysis for engineering students için kapak resmi
Finite element analysis with error estimators an introduction to the FEM and adaptive error analysis for engineering students
Yazar 
Akin, J. E.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750667227
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Optical bit error rate an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263060
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Uncertain input data problems and the worst scenario method için kapak resmi
Uncertain input data problems and the worst scenario method
Yazar 
Hlaváček, Ivan, 1933- Chleboun, Jan. Babuška, Ivo.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444514356
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Measurement error and misclassification in statistics and epidemiology impacts and Bayesian adjustments için kapak resmi
Measurement error and misclassification in statistics and epidemiology impacts and Bayesian adjustments
Yazar 
Gustafson, Paul, 1968-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Measurement errors in surveys için kapak resmi
Measurement errors in surveys
Yazar 
Biemer, Paul P. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0626/2005270829-b.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10509849
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10509849
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
Optical bit error rate : an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate : an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V.
Yer Numarası 
TK5103.59 K363 2004
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
14. 
Data reduction and error analysis for the physical sciences için kapak resmi
Data reduction and error analysis for the physical sciences
Yazar 
Bevington, Philip R., 1933- Robinson, D. Keith, ort. yaz.
Yer Numarası 
QA 278 B48 2003
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Data reconciliation & gross error detection an intelligent use of process data için kapak resmi
Data reconciliation & gross error detection an intelligent use of process data
Yazar 
Narasimhan, Shankar. Jordache, Cornelius.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780884152552
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
A posteriori error estimation in finite element analysis için kapak resmi
A posteriori error estimation in finite element analysis
Yazar 
Ainsworth, Mark, 1965- Oden, J. Tinsley (John Tinsley), 1936- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley043/00039915.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Spatial error analysis a unified, application-oriented treatment için kapak resmi
Spatial error analysis a unified, application-oriented treatment
Yazar 
Hsu, David Y., 1945- IEEE Aerospace and Electronic Systems Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5273252
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
A unified approach to the finite element method and error analysis procedures için kapak resmi
A unified approach to the finite element method and error analysis procedures
Yazar 
Dow, John O., 1941-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122214400
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
An introduction to error analysis : The study of uncertainties in physical measurements için kapak resmi
An introduction to error analysis : The study of uncertainties in physical measurements
Yazar 
Taylor, John Robert, 1939-
Yer Numarası 
QC 39 T4 1997
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Measurement error models için kapak resmi
Measurement error models
Yazar 
Fuller, Wayne A. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469407
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470316665
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: