Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Real-time embedded systems için kapak resmi
Real-time embedded systems
Yazar 
Wang, Jiacun, 1963- author.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119420712
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: