Search Results for Scanning.

1.

Acoustic Scanning Probe Microscopy

Yazar

Marinello, Francesco. editor. Passeri, Daniele. editor. Savio, Enrico. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(333153.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27494-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Applied Scanning Probe Methods XII Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85039-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Applied Scanning Probe Methods IX Characterization

Yazar

Tomitori, Masahiko. editor. Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Roadmap of Scanning Probe Microscopy

Yazar

Morita, Seizo. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34315-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Applied Scanning Probe Methods VI Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/11776314

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Applied Scanning Probe Methods III Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138285

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis

Yazar

Pennycook, Stephen J. editor. Nellist, Peter D. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy

Yazar

Shimizu, Kenichi. author. Mitani, Tomoaki. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03160-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

9.

Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

10.

Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications

Yazar

Zhou, Weilie. editor. Wang, Zhong Lin. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138289

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

12.

Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(333137.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25414-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

13.

Scanning SQUID Microscope for Studying Vortex Matter in Type-II Superconductors

Yazar

Finkler, Amit. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29393-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

14.

Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10497-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

15.

Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

16.

Applied Scanning Probe Methods XIII Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85049-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

17.

Applied Scanning Probe Methods X Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Tomitori, Masahiko. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74085-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

18.

Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

19.

Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Yazar

Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

20.

Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

21.

Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/11785705

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

22.

Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Yazar

Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

23.

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces

Yazar

Kaupp, Gerd. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

24.

Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b139097

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

25.

Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002

Yazar

Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

26.

Mono-Cycle Photonics and Optical Scanning Tunneling Microscopy Route to Femtosecond Ångstrom Technology

Yazar

Yamashita, Mikio. editor. Shigekawa, Hidemi. editor. Morita, Ryuji. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138671

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

27.

Chromosome nanoscience and technology

Yazar

Fukui, Kiichi. Ushiki, Tatsuo, 1957-

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

28.

Force microscopy applications in biology and medicine

Yazar

Jena, Bhanu P. Hörber, J. K. Heinrich. John Wiley & Sons.

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/browsebyproduct?type=2
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470007702
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112139511
Volltext http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/0470007702

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

29.

Electrochemical nanotechnology in-situ local probe techniques at electrochemical interfaces

Yazar

Lorenz, W. J. Plieth, W. (Waldfried) International Union of Pure and Applied Chemistry. Wiley InterScience (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=481756
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527612154
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/39117390.html

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

30.

Nanoscale characterization of surfaces and interfaces

Yazar

DiNardo, N. John. Wiley InterScience (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527615957

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

	{displayName}	{count}
{error}